EscaLab Xi+ X射線光電子能譜儀
- 公司名稱 賽默飛世爾科技分子光譜
- 品牌 其他品牌
- 型號 EscaLab Xi+
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2022/12/7 16:55:33
- 訪問次數 4537
聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!
價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 進口 |
---|
X射線光電子能譜儀ESCALAB Xi+是研發出的一款基于ESCALAB 250Xi產品后,具有可擴展功能、多種分析技術集成化的測試手段。該產品通過的靈活性、完備的專業配置選項、直觀的軟件操作以及硬件配置,帶給用戶的是的的實驗結果和生產力。強大的Avantage數據系統提供系統控制、數據采集、數據處理與系統運行報告等一站式服務。
分析性能
●表面元素定性、定量分析
世界的能量分析器設計和雙晶微聚焦單色化X射線源結合,實現了的能量分辨率
●快速高分辨平行成像
化學成像: 空間分辨率優于1um
回溯成譜: 回溯區域優于6um
●無需背底修正探測器
電子倍增器和電阻陽極探測器的雙探測器設計,可實現高性能的XPS采譜和高空間分辨的XPS成 像的需求。
空間連續的電阻陽極探測器創新技術,使得XPI成像分辨率達1um,同時所得數據無探測器背底特 征,無需背底校正,直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像結果。
●微聚焦單色源
分析尺寸在20μm~900μm之間連續可調
的靈敏度和能量分辨率
提供不少于20個靶材工作點,確保儀器終身使用過程中陽極靶無需更換
●自動化高效離子剖析源
新型Ar離子團簇與傳統單粒子離子源相結合,用于各類材料的深度剖析研究
●高精確度角分辨XPS
軟件控制分析位置和角度,確保數據的精確性和重復性
全套的ARXPS數據處理工具,可對納米尺度的多層結構器件進行層厚計算
●一鍵式荷電補償
配有雙束電荷中和系統,可以根據實際樣品的需要獨立控制開啟。
適用于所有不導電樣品及粗糙表面的精準荷電中和
●強大的Avantage分析軟件
全數字化儀器控制
系統軟件可視化操作
全套XPS標準數據圖庫以及化合物結構鑒定數據庫
自定義數據采集到報告生成模式
X射線光電子能譜儀操作簡便
●高度自動化
分析區域和角度分辨可選
自動化氣體調節和真空控制
●隨時校準
能量標尺和儀器功函數的校準
離子槍定位和離子束聚焦
●鼠標點擊式樣品導航
實時顯示分析位置
高照明強度、強度可調
設計靈活
●ISS、ARXPS與REELS為標準配置
●多功能進樣室為標準配置
●UPS和EDS/AES/SEM/SAM/可選
●可選的樣品預處理附件,包括:
1.樣品制備臺、晶體清潔器、樣品刮片器;
2.樣品加熱/冷卻裝置;
3.濺射清潔離子槍;
4.蒸發器;
5.高壓反應室