Ultima Ⅳ理學組合型多功能水平X射線衍射儀特點：

光學系統調整自動化——大幅縮短簡化了切換光學系統所需的時間和程序，提高整體效率；

CBO技術具有高度靈活性——應用于所有粉末·多晶材料評價

樣品位置自動調整，和In-Plane測試相結合——高分辨率的應力·選擇取向測試簡便化

CBO技術和無需変更系統的In-Plane掃描——實現強的薄膜評價系統

新開發的In-situ——可以在特殊條件下測試

利用CBO和自動調整裝置，僅添加附件即可對納米材料小角散射測試

Ultima Ⅳ理學組合型多功能水平X射線衍射儀主要的應用有：
1. 粉末樣品的物相定性與定量分析
2. 計算結晶化度、晶粒大小
3. 確定晶系、晶粒大小與畸變
4. Rietveld結構分析
5. 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度
6. In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構
7. 小角散射與納米材料粒徑分布
8. 微區樣品的分析