LP-SSRPT便攜式硅材料電阻率測試儀

產品特點

1) 融合導電型號、電阻率測量、報警為一體，儀器小巧

2) 采用9V電池供電，不需要再另行拖拉電源線

3) 采用了*的恒流源技術，能夠滿足寬范圍的電阻率測試要求。

4) 儀器內部已設置了修正系數，不需要通過調整電流來修正，電阻率讀數直觀。

技術指標

1、電阻率量程：0.001 ~100  ?﹡㎝

測量精度：精確到百分位（即精確到小數點后三位）

誤差范圍:<1?﹡㎝偏差一般不超過5％±2LSB

   1.01~50?﹡㎝偏差一般不超過10％±2LSB

2、報警門*程：0~1.0  ?﹡㎝(如果調到0則不報警 )

調節精度：按0.1 ?﹡㎝步進

3、型號測量：

可以顯示被測材料的導電類型。一般適用0.3~100?﹡㎝的材料。

工作條件

1) 溫度：23±2℃

2) 濕度：60%~70%

3) 無強磁場、不與高頻設備鄰近

LP-SSRPT便攜式硅材料電阻率測試儀

LP-JX2008 硅半導體電阻率及型號測試儀是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和 軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業的篩選。

產品特點

1 儀器采用 220V 交流電源供電。

2 同時檢測硅半導體材料的電阻率和型號兩項指標。

3 擁有較高的電阻率測試分辨率，小可到0.001 歐姆.厘米。 4 能精確的分辨電阻率在0.002 歐姆.厘米以上的硅半導體材料型號。

5 獨立的 P/N 型重摻告警設置，便于工廠大規模快速選料。

6 適中的體積和便攜性。

7 簡單的操作，快速的測試。

8 低廉的價格，很高的性價比。

參數指標

1 供電電源 220V±10% 50Hz AC

2 功耗<1w

3 主機尺寸 155×120×50mm

2 電阻率測試范圍 0.001~50 歐姆.厘米 3 電阻率測試精度 ±5%±2LSB