OtO 中國臺灣超微光學 近紅外光譜儀--響尾蛇4號
- 公司名稱 廣州貝拓科學技術有限公司
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/7/18 13:59:13
- 訪問次數 1494
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廣州貝拓科學技術有限公司成立于2010年8月，是國家高業，廣州科技小巨人企業，并在廣東股權交易中心成功掛牌（股權代碼：892081），通過ISO9001-2015質量體系認證和知識產權貫標認定體系，擁有近20項國家磚利。貝拓科學一直從事光譜分析儀器領域，自主研發儀器有光學接觸角測量儀，顯微拉曼光譜儀，表界面張力儀，白光干涉膜厚分析儀，陣列式紫外可見分光光度計，積分球式透反射率測試儀等。具備光學設計、機械設計、軟件編寫和算法編寫核心能力，和中山大學、廣州大學、華南師范大學有緊密的合作關系，并且是廣州大學物理與光電學院的長期實習基地。貝拓科學所研發生產的產品定位在國內高水平，未來面向市場。
貝拓科學陪伴著科學家一起探索未知事件，“Touch the future”作為我們的口號，貝拓科學尊重以嚴謹的科學理論為指導，為科學家提供有力的科研工具。我們默默堅持做前沿分析儀器的搬運工，陪伴科學家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產廠家，例如：日本Hitachi，德國WITec,德國Bruker，英國OXFORD，美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強和普林斯頓,以及中國臺灣OtO等大電子儀器廠家的代理，一起為中國的科學家提供專業的服務。
我們的宗旨是為科學學提供更專業，更貼心的服務。
我們的優勢和專注點集中于材料測試方面，為了普惠科研工作者，我們還提供測試服務，其中包括材料的結構、元素分布、表面特征、物理化學特性以及光學、電學特性的分析。
材料分析領域代理品牌：
OXFORD（牛津）、FEI（賽默飛）、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI（日立）、OTO（中國臺灣超微光學）、WITec（威泰克）、BRUKER（布魯克）、普析、徠卡、本原納米等。
接觸角測量儀、在線測厚儀、光學膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀
OtO 中國臺灣超微光學 近紅外光譜儀--響尾蛇4號
近紅外光譜儀--響尾蛇4號專門設計用于檢測近紅外光譜，光譜范圍最大可覆蓋 900nm~1700nm。使用線陣銦砷化鎵感測器 (Linear InGaAs Sensor) 及高性能32bits RISC微控制器，具有高靈敏度、高信噪比(6000/2800)、高動態范圍(7200/5000) 和光學分辨率 (2~8nm)之特性，且體積輕巧，僅 110(長) x 86(寬) x 32.4(高) mm，實現即時取得近紅外全光譜之體驗，適合食品、制藥及生化檢測之應用。
近紅外光譜儀--響尾蛇4號搭載本公司多項技術，包括動態熱平衡光學平臺 (Dynamic Thermal Equilibrium Platform)，優異的溫濕度穩定性(僅0.027nm/℃)；獨步全球的軟件消雜散光演算技術 (Stray Light Calibration Algorithm) ，雜散光可從0.15％降至0.01％；超大容量板內暫存空間，可存儲4000個光譜；內建ARM9 CPU，可即時計算所有的光信息和顏色參數。提供客戶十分精確、快速、穩定的性能，同時享有精巧的空間與經濟的價格。
OtO 中國臺灣超微光學 近紅外光譜儀--響尾蛇4號
近紅外光譜儀--響尾蛇4號儀器特性：
專門設計用于近紅外光譜，最大光譜范圍為900~1700nm
采線陣列「銦砷化鎵」感測器 (Linear InGaAs Sensor)
即時取得全光譜，非分時成像
高信噪比、高感度、超高分辨率 、低雜散光 （雜散光比例可達0.01％）
高質量市場之佳價格
食品、制藥及生化檢測應用之佳選擇
體積輕巧，僅 110(長) x 86(寬) x 32.4(高) mm
優異的「溫濕度」與「撞震」穩定性
可選配「連續高速曝光」模式 (Continuous High-Speed Exposures)
免費圖譜處理軟件(SpectraSmart)，提供您好的用戶體驗、技術和支持
近紅外光譜儀--響尾蛇4號性能一覽(SW2540)
| 項目 | 規格 | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 光學設計 | Unfolded Czerny-Turner | ||||||
| 波段范圍 | 950~1700 nm | ||||||
| 900~1650 nm | |||||||
| 型號 | SW2520 | SW2530 | SW2540 | ||||
| InGaAs傳感器 pixels | 128 | 256 | 512 | ||||
| 光學分辨率 (nm) (FWHM) | 8.0 | 4.5 | 2.1 | ||||
| 波長準確度 | <2 nm (使用128pixel傳感器) | ||||||
| <1 nm (使用256pixel傳感器) | |||||||
| 雜散光 | <0.15% | ||||||
| 信噪比 | 高增益 | 低增益 | |||||
| 2800 | 6000 | ||||||
| 動態范圍 | 5000 | 7200 | |||||
| 入口狹縫寬度 | 10, 25, 50, 100, 200 um | ||||||
| 積分時間 | 50 μs ~ 15 sec | ||||||
| 光信息參數即時計算 | V | ||||||
| UART | V | ||||||
| 外部多重觸發模式 | V | ||||||
產品規格
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| CPU | ARM9 32bit 200MHz |
| RAM | 64 MByte |
| Flash | 8 Mbyte |
| A/D 轉換器 | 15MHZ, 16bit |
| 傳輸介面 | USB 2.0 |
| 電源 | 300mA @ 5V |
| 開機時間 | <4 sec |
| 尺寸 | 110(長) x 86(寬) x 32.4(高) mm |
| 重量 | 360 g |
＊OtO雙光譜儀系統：寬廣全光譜(紫外至近紅外光)解決方案
客戶可選擇兩臺光譜儀，量測波段分別為180 ~ 1100 nm和950 ~ 1700 nm，再搭配OtO客制化之雙光譜儀系統，即可輕松擁有180 ~1700 nm的波段范圍和高光學分辨率，突破單一光譜儀量測的限制，適合需紫外至近紅外波段范圍的量測應用，如：橢偏儀。
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