SZ-ST2258A型多功能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。

SZ-ST2258A型多功能數字式四探針測試儀特點：

主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀特贈設測試結果分類功能，最大分類10類。

儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡便等特點。

儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

探頭選配：

根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺，也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。

 配ST2553-F01探頭測硅片

配ST2558B-F01測ITO膜

基本技術參數：

1. 測量范圍、分辨率（可向下拓展1～3個數量級，括號內為向下拓展3個數量級）

     電    阻：1.0×10^-3 ～ 200.0×10⁵  Ω,    分辨率0.1×10^-3 ～ 0.1×10⁴  Ω

                （1.0×10^-6 ～ 200.0×10²  Ω,    分辨率0.1×10^-6 ～ 0.1×10² Ω）

     電 阻 率：1.0×10^-3 ～ 200.0×10³ Ω-cm  分辨率0.1×10^-3 ～ 0.1×10³  Ω-cm

                （1.0×10^-6 ～ 200.0×10¹ Ω-cm  分辨率0.1×10^-6 ～ 0.1×10¹  Ω-cm）

     方塊電阻：5.0×10^-3 ～ 100.0×10⁴ Ω/□  分辨率0.5×10^-3 ～ 0.1×10³  Ω/□

                （5.0×10^-6 ～ 100.0×10¹ Ω/□  分辨率0.5×10^-6 ～ 0.1×10¹  Ω/□）

2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)

   直    徑： SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限

   SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.

   長(高)度：  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.

   測量方位:  軸向、徑向均可

3. 量程劃分及誤差等級

4) 工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W

5) 外形尺寸：W×H×L=215mm×85mm×190mm

      凈   重：≤1.5～2.0kg

儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。