一、公司簡介

      Phi Optics有限公司于2009年由光學博士和材料科學研究博士在美國成立，公司為應對市場需求致力于開發量化相差成像設備。基于其量化相差成像平臺，Phi Optics公司正在開發下一代光學成像系統，Phi optics平臺的目標是在多變的縱向市場與傳統光學顯微鏡競爭，在大量保護證書及Phi Optics的不斷開發的支持下，公司主要針對生命科學、醫學診斷及納米技術，半導體技術等開發應用。

Phi Optics技術平臺采用標準工具及處理過程，綜合傳統可調光學顯微鏡的性能（例如熒光，DIC，相差等）與實時3D斷層掃描量化相差成像于一體，其整合性對于那些要求低成本，快速，準確量化納米材料的應用提供了一個非常突出的優勢。目前該系統在全世界專機200臺以上，發布文獻無數。

二、空間光干涉量化成像分析系統產品介紹

空間光干涉量化成像分析系統  技術原理

Phi Optics SLIM技術將相襯顯微技術和全息成像術整合為一體，是一款非侵入式的空間光成像技術；采用*的四波橫向剪切干涉檢測技術，利用空間非相干光源的白光成像，參照光與照射光都通過樣本，不受光源極性變化影響，保證更好的橫向分辨率，無光漂白影響，無需染色，避免光毒性，直接通過將樣本中的光程差并將其轉化成厚度，干物質面積濃度和折射率圖。Phi Optics的SLIM工具能加載所有主要品牌的相差顯微鏡上（放大倍數從10x-100x），通過C接口連接，并使用顯微鏡的白光做光源。應用空間光干涉度量法對細胞結構及動態性檢測，非常靈敏。