FEG系列” 場發射環境掃描電子顯微鏡
- 公司名稱 廣州貝拓科學技術有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/7/18 11:42:19
- 訪問次數 4222
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廣州貝拓科學技術有限公司成立于2010年8月，是國家高業，廣州科技小巨人企業，并在廣東股權交易中心成功掛牌（股權代碼：892081），通過ISO9001-2015質量體系認證和知識產權貫標認定體系，擁有近20項國家磚利。貝拓科學一直從事光譜分析儀器領域，自主研發儀器有光學接觸角測量儀，顯微拉曼光譜儀，表界面張力儀，白光干涉膜厚分析儀，陣列式紫外可見分光光度計，積分球式透反射率測試儀等。具備光學設計、機械設計、軟件編寫和算法編寫核心能力，和中山大學、廣州大學、華南師范大學有緊密的合作關系，并且是廣州大學物理與光電學院的長期實習基地。貝拓科學所研發生產的產品定位在國內高水平，未來面向市場。
貝拓科學陪伴著科學家一起探索未知事件，“Touch the future”作為我們的口號，貝拓科學尊重以嚴謹的科學理論為指導，為科學家提供有力的科研工具。我們默默堅持做前沿分析儀器的搬運工，陪伴科學家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產廠家，例如：日本Hitachi，德國WITec,德國Bruker，英國OXFORD，美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強和普林斯頓,以及中國臺灣OtO等大電子儀器廠家的代理，一起為中國的科學家提供專業的服務。
我們的宗旨是為科學學提供更專業，更貼心的服務。
我們的優勢和專注點集中于材料測試方面，為了普惠科研工作者，我們還提供測試服務，其中包括材料的結構、元素分布、表面特征、物理化學特性以及光學、電學特性的分析。
材料分析領域代理品牌：
OXFORD（牛津）、FEI（賽默飛）、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI（日立）、OTO（中國臺灣超微光學）、WITec（威泰克）、BRUKER（布魯克）、普析、徠卡、本原納米等。
接觸角測量儀、在線測厚儀、光學膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀
FEG系列” 場發射環境掃描電子顯微鏡
儀器簡介：
Quanta FEG系列場發射環境掃描電子顯微鏡是FEI公司的新產品之一。是在FEI公司著名產品XL30 ESEM-FEG場發射環境掃描電子顯微鏡的基礎上發展而來的。
Quanta FEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和ESEM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢，可對各種各樣的樣品（包括導電樣品、不導電樣品、含水含油樣品、加熱樣品等等）進行高分辨的靜態和動態觀察和分析。
Quanta FEG和Quanta一樣具有優異的系統擴展性能，可同時安裝能譜儀、波譜儀、EBSP、陰極熒光等附件。
FEG系列” 場發射環境掃描電子顯微鏡
主要特點：
1.*數字化系統控制，Windows XP操作系統
2.場發射環境掃描系統兼顧高分辨和樣品多樣性
3.數字電影功能可將觀察過程記錄為avi視頻文件
4.穩定的大束流(最大200nA)確保高速、準確的能譜、波譜和EBSD分析
5.可安裝冷臺、加熱臺、拉伸臺等進行樣品原位、動態觀察和分析
技術參數：
1.分辨率：
二次電子:
高真空模式 1.0nm @ 30kV; 3.0nm @ 1kV
高真空減速模式 2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可選項)
低真空模式 1.4nm @ 30kV; 3.0nm @ 3kV
環境真空模式 1.4nm @ 30kV
背散射電子:
高真空和低真空模式: 2.5nm @ 30kV
掃描透射STEM探測器:
0.8nm @ 30kV
2.加速電壓 200V ～ 30kV, 連續可調
3.高穩定性Schottky場發射電子槍
4.最大束流 200nA
5.樣品室壓力最高達4000Pa
6.樣品臺移動范圍
Quanta 250 FEG: X=Y=50mm
Quanta 450 FEG: X=Y=100mm
Quanta 650 FEG: X=Y=150mm
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