飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜-材料表征
- 公司名稱(chēng) 科睿設(shè)備有限公司
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- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/8/28 7:19:39
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光刻機(jī),鍍膜機(jī),磁控濺射鍍膜儀,電子束蒸發(fā)鍍膜儀,開(kāi)爾文探針系統(tǒng)(功函數(shù)測(cè)量),氣溶膠設(shè)備,氣溶膠粒徑譜儀,等離子增強(qiáng)氣相沉積系統(tǒng)(PECVD),原子層沉積系統(tǒng)(ALD),快速退火爐,氣溶膠發(fā)生器,稀釋器,濾料測(cè)試系統(tǒng)
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類(lèi) | 飛行時(shí)間 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,電氣 |
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜-材料表征
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜(11TOF-SIMS)是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。可以廣泛應(yīng)用于物理,化學(xué),微電子,生物,制藥,空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三維樣品的元素,分子等結(jié)構(gòu)信息。
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜-材料表征
技術(shù)參數(shù):
. 并行探測(cè)所有離子,包括有機(jī)和無(wú)機(jī)分子碎片。
. 無(wú)限的質(zhì)量探測(cè)范圍(實(shí)際測(cè)量中大于1000m/z 原子量單位)。
. *透過(guò)率下實(shí)現(xiàn)高的質(zhì)量分辨率。
. *的橫向和縱向空間分辨率(橫向小于100納米,縱向小于1納米)。
. 探測(cè)靈敏度可達(dá)ppm或ppb量級(jí)。
. 質(zhì)量探測(cè)分辨率(M/ΔM) >1000
. 質(zhì)量探測(cè)準(zhǔn)確度 ≥20 milli 質(zhì)量單位
. 反射性分析器
. 5 分鐘樣品腔真空度可從大氣環(huán)境達(dá)到真空工作環(huán)境
主要特點(diǎn):
. 超高的表面靈敏度(1x109 atoms/cm2)
· 操作簡(jiǎn)單(? day training)
· 1 分鐘分析,樣品處理流程<7分鐘
· 導(dǎo)體和絕緣體表面均可測(cè)試
· 可得到元素和分子信息
· 從元素中分離出普通有機(jī)物
· 正電和負(fù)電的 二次離子質(zhì)譜
· 同位素分析
· 分析面積 ~0.5 mm
· 濺射預(yù)清洗表面
· 提供材料數(shù)據(jù)庫(kù)
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