GDW3-LT-1A 高頻光電導少子壽命測試儀（基本型）
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 北京中慧天誠科技有限公司
- 品牌
- 型號 GDW3-LT-1A
- 產地 北京
- 廠商性質 其他
- 更新時間 2017/8/23 17:21:05
- 訪問次數 322
聯系方式：張先生15652257065 查看聯系方式
聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息，謝謝!
空氣臭氧發生器;擴散氫測定儀;瓦斯蒸氣粉塵和懸浮物;汽車尾氣分析儀;煙道氣綜合分析儀;石油產品采樣器;食品檢測儀;固定式可燃氣體探測器;手持式辛烷值儀;快速水份測定儀;二氧化氯發生器;身高體重測量儀
| 高頻光電導少子壽命測試儀（基本型）τ:10～6000μs ρ＞3Ω•cm 型號：GDW3-LT-1A | 貨號：ZH411 |
| 1、 用途 用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質污染及缺陷存在的情況，是單晶的重要檢測項目。 2、 設備組成 2.1、光脈沖發生裝置 重復頻率＞25次/s 脈寬＞60μｓ 光脈沖關斷時間＜0.2-1μｓ 紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶） 脈沖電流：5A～20A 如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源 2.2、高頻源 頻率：30MHz 低輸出阻抗 輸出功率＞1W 2.3、放大器和檢波器 頻率響應：2Hz～2MHz 2.4、配用示波器 配用示波器：頻帶寬度不低于40MHz，Y軸增益及掃描速度均應連續可調。 3、測量范圍 LT-1可測硅單晶的電阻率范圍：ρ≥3Ω·㎝（歐姆·厘米）,壽命值的測量范圍：5～6000μｓ |  |
采購中心
化工儀器網