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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>其它半導體行業儀器設備>其它半導體設備>ENI1220 日本科佩爾 替代 易恩IPM測試儀

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ENI1220 日本科佩爾 替代 易恩IPM測試儀

參考價 190
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 西安易恩電氣科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 ENI1220
  • 產地 陜西西安
  • 廠商性質 生產廠家
  • 更新時間 2018/7/21 9:44:45
  • 訪問次數 445

聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


    西安易恩電氣坐落于西安渭北工業裝備區,是陜西省政府重點支持的*。公司專注于研發、生產和銷售半導體封裝、測試設備。現已成為國內電力電子行業的測試方案供應商。公司以自主研發生產的“軌道機車半導體測試系統”系列產品為主導,在此基礎上相繼推出全自動大功率IGBT參數測試系統分立器件綜合測試儀,功率器件圖示系統晶體管圖示儀,MOS動靜態測試測試儀,晶閘管測試儀,雪崩、浪涌、高溫阻斷、高溫反偏、柵電荷測試系統等系列產品。廣泛應用于科研院所、能源、電力電子、交通、船舶制造、高校等諸多領域。

    完善的基礎設施和優秀的人才隊伍一直是企業強化建設的重點。公司設有測試實驗室,調試中心,產品研發中心,服務團隊等多個技研服務部門,以滿足不同客戶對測試解決方案的多層次需求。公司研發人員占總人數的70%,碩士學歷以上人員占75%,專業技術人員占比超過66%,成員大多來自航天、航空、半導體及微電子相關研究院所及電力電子行業內的*人士。公司通過了質量體系*及陜西省軟件企業認定,承擔國家*創新基金項目等。

   “專業專注,全心服務”是公司健康發展之基礎。面向未來,易恩將充分發揮自身的技術創新和服務優勢。

IGBT動靜態測試系統,晶體管圖示儀?,?IPM測試系統,功率循環?/?熱阻

ENI1220 IPM 測試系統

日本科佩爾 替代 易恩IPM測試儀 

 

 

系統概述

 

基礎配置

 

IPM,即智能功率模塊,是*的混合集成功率器件。一般使用IGBT作為功率開關元件,內部集成電流傳感器及驅動電路的集成結構。

IPM模塊需要測試的特性參數很多,其中關鍵的測試參數為開關特性(時間特性)的測量。該系統在解決IPM的控制信號以及高速數據采集處理兩個關鍵技術的條件下,是一套基于DSP及FPGA的高速實時測試系統。

 

電壓

電流

 

 

標配

選配

標配

選配

 

 

1200V

1000V

200A

200A

 

 

2200V

400A

 

 

3300V

600A

 

 

4500V

1000A

 

 

6000V

2000A

 

配置/短路測試

 

電壓

電流

短路測試

 

標配

選配

標配

選配

項目

范圍

誤差

分辨率

 

1200V

2200V

200A

400A

VPN

100V~1200V

±3%

10V

 

3300V

600A

測試電流

10A~75A

±3%

1A

 

4500V

1000A

短路電流

100A~500A

±3%

1A

 

6000V

2000A

短路時間

1 uS~10uS

可調

可調

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

測試功能

 

測試范圍

測試參數

 

IPM

BVCES, BVRRM, BVSCES, ICES, IRRM, VCE(SAT), VEC, VFBR, VDSET, VDSET-HP, ID,

UVt, UVr, OUVt, OUVr, VCIN(ON), VCIN(OFF),

ICIN(ON), ICIN(OFF), IFO(H), IFO(L), VFO(SAT), Iin leak, VCIN, ICIN,

OTc, TC-Out, td(OV), Udcout, OV, OVt, T_MEAS, V_MEAS

 

IGBT

ICES, BVCES, IGES, VF, VGEON, VTH, VTHS, ICE(SAT), VCE(SAT)

 

DIODE

VF-Temp, Temp, VF revision

 

 

 

 

參數 / 精度

 

靜態參數

 

動態參數

 

上橋IGBT/FRD漏電流測試(Ices-H)

集電極電壓Vce:

100~1200V,

誤差±3%,分辨率10V

 

上橋IGBT/FRD耐壓測試(Bvce-H)

 

上橋驅動IC低端靜態電流測試(IDH)

集電極電流Ice:

10~75A,

誤差±3%,分辨率1A

 

上橋驅動IC靜態工作電流測試

(Iqbs-U,V,W)

 

VD=VBS=15V,           

誤差±3%,分辨率0.1V

 

上橋欠壓保護監測電平 (UVbsd-U V W)

VIN=0~5V             

誤差±3%,分辨率0.1V   

上橋欠壓保護復位電平(UVbsr-U V W)

ton-L : 10~500nS,    

誤差±3%,分辨率1nS

 

上橋驅動IC導通閾值電壓測試

(Vth(on)-UH VH WH)

tc(on)-L :5~200nS,

誤差±3%,分辨率1nS    

 

toff-L: 50~500nS,   

誤差±3%,分辨率1nS

 

上橋驅動IC關斷閾值電壓測試

(Vth(off)-UH VH WH)

tc(off)-L: 5~200nS,

誤差±3%,分辨率1nS     

 

Trr-L :10~500nS,    

誤差±3%,分辨率1nS

 

上橋IGBT飽和電壓測試(Vce(sat)-UH VH WH)

Eon-L :0.1~10mJ,   

誤差±3%,分辨率0.1mJ  

 

上橋FRD正向壓降測試(VF-(UH VH WH)

Eoff-L: 0.1~10mJ  

誤差±3%,分辨率0.1mJ

 

下橋IGBT/FRD漏電流測試(Ices-L)

集電極電壓Vce:

100~1200V,

誤差±3%,分辨率10V

 

下橋驅動IC靜態工作電流測試(IDL)

 

故障輸出電壓測試(Vfoh Vfol)

集電極電流Ice:

10~75A,

誤差±3%,分辨率1A

 

過流保護閾值電壓測試(Vcin(ref))

 

下橋欠壓保護監測電平(UVdd)

VD=VBS=15V,           

誤差±3%,分辨率0.1V

 

下橋欠壓保護復位電平(UVdr)

VIN=0~5V             

誤差±3%,分辨率0.1V   

 

下橋驅動IC導通閾值電壓

(Vth(on)-UL VL WL)

ton-L : 10~500nS,    

誤差±3%,分辨率1nS

 

tc(on)-L :5~200nS,

誤差±3%,分辨率1nS    

 

下橋驅動IC關斷閾值電壓

(Vth(off)-UL VL WL)

toff-L: 50~500nS,   

誤差±3%,分辨率1nS

 

tc(off)-L: 5~200nS,

誤差±3%,分辨率1nS     

 

下橋IGBT飽和電壓測試(Vce(sat)-UL VL WL)

Trr-L :10~500nS,    

誤差±3%,分辨率1nS

 

下橋FRD正向壓降測試(VF-(UL VL WL)

Eon-L :0.1~10mJ,   

誤差±3%,分辨率0.1mJ  

 

 

 

Eoff-L: 0.1~10mJ  

誤差±3%,分辨率0.1mJ



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