RTM-VA 全角度光譜測量臺
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 杭州譜鐳光電技術有限公司
- 品牌
- 型號 RTM-VA
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2018/4/16 15:53:33
- 訪問次數 734
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產地類別 | 國產 |
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材料中的很多成份,以不同角度入射,得到的透射率和反射率會因入射角度變化而變化。通過測量不同角度入射,研究材料的zui敏感角度,為進一步研究或設計測量儀器提供依據。
RTM-VA全角度光譜測量臺可以搭配光譜儀、光源及其他測量附件,可以對材料進行不同角度入射和接收的光譜測量,適用于各種表面平整的樣品光譜測量。采用電控獨立雙軸設計,高精度步進電機控制發射端和接收端的角度,角分辨率達0.05°。光譜范圍220-2500nm(可選擇不同配置),電腦軟件選擇發射端和接收端的角度,實現快速的光譜測量,能夠滿足透射/反射/散射/熒光/輻射等多種模式的全角度光譜測量應用的需求。
入射端帶有一個旋轉偏振片架和一個濾波片架,可以放置一個偏振片和濾波片。接收端帶有一個濾波片架,可以放置一個濾波片、偏振片或者波片。各種波長的范圍的偏振片、濾波片和波片可供選擇。
應用領域
- LED光源等
- 材料鍍膜
- 光子晶體器件
- 液晶顯示
- 傳感器器件制備
- 角度材料相關分析
- 納米光學材料
主要特點
- 全角度測量:發射端角度范圍0°至180°,接收端角度范圍0°至360°,可以實現反射、透射、散射、熒光和輻射的全角度光譜測量。
- 精確角度控制:高精度電機,角度精度及重復性能優異。
- 多光譜測量模式:可以實現上反射、下反射、透射、散射/熒光、輻射等多種光譜測量。
- 可編程測量模式:可以通過編程,來實現自動多角度光譜測量。
- 自由測量模式:可以任意控制樣品臺的入射角、接收角,實現光譜測量。
- 可選配件多樣:根據客戶的不同測量應用,可以選擇不同的光源、濾光片、偏振片等配件完成不同的測量應用。
- 多維調節樣品臺:樣品臺由高精度三維位移臺和二維傾斜臺組成,可實現樣品的五維正交調節。
光譜角度測量模式
反射測量(上反射/下反射)模式 | 透射測量模式 |
散射/熒光測量械 | 輻射測量模式 |
參數指標
參數指標 | ||
參數/型號 | RTM-VA | RTM-VAS |
光譜范圍 | 360-2500nm | 360-2500nm |
光源 | 含鎢燈光源 | 含鎢燈光源和積分球 |
光斑大小 | zui小3mm | zui小5mm |
入射角范圍 | 0-180° | 0-180° |
接收角范圍 | 0-360° | 0-180° |
角度分辨率 | 0.05° | |
測量對象 | 平面樣品、發光樣品 | 鏡面樣品、曲面樣品 |
應用 | 反射、透射、散射、熒光測量 | 反射率、透過率測量 |
可選配件
紫外擴展模塊 | |
RTM-UV | 250-2500NM |
光譜儀 | |
USB2000+ | 350-1000nm |
QEPRO | 350-1100nm |
NIRQUEST | 900-2500nm |
光源 | |
DH-2000 | 220-2500nm |
偏振片 | |
PLine-UV | |
PLine-VIS-A | 400-700nm |
PLine-VIS-B | 600-1100nm |
PLine-NIR-A | 1050-1700nm |