YED5100-H 激光粒度儀-激光顆粒度分析儀
| 參考價 | ￥ 14 |
| 訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 廈門億恩達科技有限公司-J
- 品牌
- 型號 YED5100-H
- 產地 廈門
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2018/1/23 14:19:19
- 訪問次數 386
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主要技術參數：
規格型號 | YED5100（標配） | YED5100（高配） | ||
執行標準 | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008 | |||
測試范圍 | 0.1μm -600μm | 0.1μm -800μm | ||
探測器通道數 | 48 | 48 | ||
準確性誤差 | <1%（國家標準樣品D50值） | |||
重復性誤差 | <1%（國家標準樣品D50值） | |||
免排氣泡 | 具備免排氣泡設計，無氣泡干擾數據更準確 | |||
誤操作保護 | 儀器具備誤操作自我保護功能，儀器對誤操作不響應 | |||
激光器參數 | He-Ne激光器 λ=632.8nm, p>2mW | |||
分散方法 | 超聲 | 頻率：f=40KHz,功率：p=80W,時間：隨意可調 | ||
循環、攪拌 | 循環攪拌一體化設計，轉速：100-33950rpm轉速可調 | |||
循環流量 | 額定流量：0-10L/min可調 額定功率：25W | |||
樣品池 | 自行設計沸騰式樣品池，分散效果更好，容量：190-600mL均可正常測試 | |||
軟件功能 | 分析模式 | 包括自由分布、R-R分布和對數正態分布、按目分級統計模式等，滿足不同行業對被測樣品粒度統計方式的不同要求 | ||
統計方式 | 體積分布和數量分布，以滿足不同行業對于粒度分布的不同統計方式 | |||
統計比較 | 可針對多條測試結果進行統計比較分析，可明顯對比不同批次樣品、加工前后樣品以及不同時間測試結果的差異，對工業原料質量控制具有很強的實際意義 | |||
自行DIY顯示模板 | 用戶自定義要顯示的數據，根據粒徑求百分比、根據百分比求粒徑或根據粒徑區間求百分比，以滿足不同行業對粒度測試的表征方式。徑距、*性、區間累積等等 | |||
測試報告 | 測試報告可導出Word、Excel、圖片（Bmp）和文本（Text）等多種形式的文檔，滿足在任何場合下查看測試報告以及科研文章中引用測試結果 | |||
多語言支持 | 中英文語言界面支持，還可根據用戶要求嵌入其他語言界面。 | |||
智能操作模式 | 真正全自動無人干預操作，無人為因素干擾，您只需按提示加入待測樣品即可，測試結果的重復性更好。 | |||
操作模式 | 電腦操作 | |||
測試速度 | <2min/次（不含樣品分散時間） | |||
體積 | 1170mm*460mm*470mm | |||
重量 | 35Kg | |||
散射理論的研究開始于上一世紀的70年代。1871年，瑞利（Lord Rayleigh）首先提出了*的瑞利散射定律，并用電子論的觀點解釋了光散射的本質。瑞利散射定律的適用條件是散射體的尺寸要比光波波長小。
1908年，米氏（G. Mie）通過電磁波的麥克斯韋方程，解出了一個關于光散射的嚴格數學解，得出了任意直徑、任意成分的均勻粒子的散射規律，這就是*的米氏理論。
1957年， H. C. Van de Hulst 出版了關于微小粒子光散射現象的專著，總結了粒子散射的普遍規律，受到科技界人士的廣泛注意，這本專著被認為是光散射理論領域的經典文獻。
1969年，M . Kerker 系統論述了光及電磁波散射的一般規律，為散射理論的進一步發展做出了貢獻。1983年，C. F. Bo hren ，O. R. Huff man綜合前人的成果，又發表了關于微小粒子對光散射及吸收的一般規律，更全面地解釋了光的各種散射現象。至此，散射理論的體系建立起來了。
1976年J . Swit henbank 等人利用米氏理論在時（ d為散射粒子的直徑，λ為光波波長）的近似式 ——夫瑯和費（Franhofer）衍射理論發展了激光粒度儀，開辟了散射理論在計量測試中的又一新領域。
由于光散射法適用范圍寬，測量時不受顆粒光學特性及電學特性參數的影響，因此在隨后的三十年時間內已成為粒度計量中zui為重要的方式之一。
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