軸承殘磁儀,測磁儀,退磁器,高斯計,特斯拉計,特斯拉儀,顯微鏡,測量顯微鏡,讀數顯微鏡,工具顯微鏡,光學投影儀,測量投影儀,影像測量儀,生物顯微鏡,體視顯微鏡,金相顯微鏡,視頻顯微鏡,檢測顯微鏡,偏光顯微鏡,偏光熔點測定儀,生物顯微鏡加熱臺,光切法顯微鏡,干涉顯微鏡,立式光學計,阿貝折射儀,金相試樣設備,平行光管,光譜儀
產地類別 | 國產 |
---|
平行平晶0-100,一級平晶
產品名稱:平行平晶
產品型號:0-25mm;25-50mm;50-75mm;75-100mm(每組四塊)
廠 商:南京毫特科技有限公司
簡介
具有兩個(或一個)光學測量平面的正圓柱形或長方形的量規。光學測量平面是表面粗糙度數值和平面度誤差都極小的玻璃平面,它能夠產生光波干涉條紋(見激光測長技術)。平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差,為用平面平晶檢驗量塊測量面的平面度誤差。平行平晶的兩個光學測量平面是相互平行的,用于測量兩高光潔表面的平行度誤差,例如千分尺兩測量面的平行度誤差.平晶用光學玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為 45~150毫米。其光學測量平面的平面度誤差為:1級精度的為0.03~0.05微米;2級精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度一般為200毫米。
平行平晶:是以光波干涉原理為基礎,利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的誤差。平行平晶據有高精度的平面性和平行性。
平行平晶:用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規和千分尺卡規等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。
具體規格:
每組平行平晶共四塊,分四個尺寸系列組
測量面上平面度偏差: <0.1μm
平面度局部偏差: >0.03μm
測量面平行度誤差: 組Ⅰ系列允差值:0.06μm
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值:0.08μm
組Ⅳ系列允差值:0.1μm
組Ⅰ | 平行平晶 | 0-25mm | 4塊/組 |
組Ⅱ | 平行平晶 | 25-50mm | 4塊/組 |
組Ⅲ | 平行平晶 | 50-75mm | 4塊/組 |
組Ⅳ | 平行平晶 | 75-100mm | 4塊/組 |
平行平晶尺寸系列表
組號 | 0-25 | 25-50 | 50-75 | 75-100 |
1 | 15.00,15.12 | 40.00,40.12 | 65.00,65.12 | 90.00,90.12 |
2 | 15.12,15.25 | 40.12,40.25 | 65.12,65.25 | 90.12,90.25 |
3 | 15.25,15.37 | 40.25,40.37 | 65.25,65.37 | 90.25,90.37 |
4 | 15.37,15.50 | 40.37,40.50 | 65.37,65.50 | 90.37,90.50 |
5 | 15.50,15.62 | 40.50,40.62 | 65.50,65.62 | 90.50,90.62 |
6 | 15.62,15.75 | 40.62,40.75 | 65.62,65.75 | 90.62,90.75 |
平行平晶0-100,一級平晶