涂層測厚儀
一、概述:
德國尼克斯QNIX涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。是控制和保證產品質量*的檢測儀器,廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。
注:磁性金屬元素有鐵、鈷、鎳及鑭系元素。
二、性能特點:
1. 零位穩定:所有測量前都要求校準零位,可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩定是保證測量準確的前提。一臺好的測厚儀校零后,可以長時間保持零位不漂移,確保準確測量。
2. 無需校準:多數除了校零外,還需要用標準片進行調校。測量某一范圍厚度,要用某一范圍的標準片調校。主要是不能滿足全范圍內的線性精度。不僅操作煩瑣,而且也會因標準片表面粗糙失效,增大系統誤差。尼克斯可以滿足全量程范圍內數值準確
3. 溫度補償:涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術,以保證不同溫度下的測量精度。
4. 紅寶石探頭:探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度。普通金屬接觸探頭,其表面磨損后會帶來很大的誤差。
5. *的直流采樣技術:使得測量重復性較傳統交流技術有*的*和提高。
6. 單探頭量程大:0-5mm
QNix®4200(含QNix®4200、QNix®4200/5、QNix®4200P、QNix®4200P5)可測量磁性金屬表面非磁性涂鍍層厚度。(Fe)
QNix®4500(含QNix®4500、QNix®4500/5、QNix®4500P、QNix®4500P5可測量磁性金屬表面非磁性涂鍍層厚度及非磁性金屬表面非導電涂層厚度。(Fe/NFe雙用)
標準:符合ISO 2178,2360,2808及ASTM B 499,D709標準
三、技術參數:
型號 | 一體/分體 | 量程 | 基體 |
QNix®4200 | 一體 | Fe:0-3000μm | Fe |
QNix®4200P | 分體 | Fe:0-3000μm | Fe |
QNix®4200/5 | 一體 | Fe:0-5000μm | Fe |
QNix®4200P5 | 分體 | Fe:0-5000μm | Fe |
QNix®4200P5 | 一體 | Fe/NFe:0-3000μm | Fe/NFe雙用 |
QNix®4500P | 分體 | Fe/NFe:0-3000μm | Fe/NFe雙用 |
QNix®4500/5 | 一體 | Fe:0-5000μm | Fe/NFe雙用 |
NFe:0-3000μm | |||
QNix®4500P5 | 分體 | Fe:0-5000μm | Fe/NFe雙用 |
NFe:0-3000μm |
型號 | QNix®4200 | QNix®4500 |
測量范圍 | Fe:0-3000或0-5000μm | Fe:0-3000或0-5000μm NFe:0-3000μm |
顯示范圍 | 0-99.9μm:0.1μm 100-999μm:1μm 100-999μm:1μm | |
精度 | ±(2+3%)μm≤2000μm ±(2+5%)μm>2000μm | |
zui小測量面積 | Fe:10×10mm²,NFe:6×6mm² | |
zui小曲率半徑 | 凸半徑:5mm,凹半徑:25mm | |
zui薄基體 | Fe:0.2mm,NFe:0.05mm | |
測量溫度范圍 | -10℃-60℃ | |
溫度補償范圍 | 0℃-50℃ | |
分體型連接線長度 | 1m | |
電源 | 2×1.5V AA堿性電池 | |
尺寸 | 100×60×27mm | |
重量(含電池) | 一體型:105g,分體型:147g |