SmartSEM 觸摸式EVO MA顯微鏡

蔡司EVO系列實現(xiàn)了高清掃描電子顯微術(shù)與直觀人性化體驗?zāi)Ｊ降?融合

您可以發(fā)現(xiàn)采用SmartSEM觸摸式用戶界面不僅使工作效率獲得實質(zhì)性改善，而且大大縮減了培訓成本。在視覺檢查工作流程中，其不僅為所有用戶生成優(yōu)質(zhì)圖像，并且擁有高性能。SmartSEM觸摸功能在多用戶操作環(huán)境下是一項十分受歡迎的附加功能。

借助新的探測技術(shù)，您可以體驗高質(zhì)量的高真空, 變壓及擴壓模式成像。在信號產(chǎn)生及對比度中取得的顯著改善也預(yù)示著成像效率會得到進一步提升。

EVO作為靈活易用的高清晰圖像成像與圖像分析工具能夠?qū)λ袠颖具M行快速，準確，重復(fù)成像

SmartSEM 觸摸式EVO MA顯微鏡用指尖控制您的設(shè)備

• 大大了縮短培訓周期，并能快速捕獲優(yōu)質(zhì)圖像，令您從中受益。
• 專為以自動化工作流程進行視覺檢測任務(wù)的工業(yè)操作者與綜合使用環(huán)境下的學術(shù)用戶而設(shè)計。
• 通過滑動手指即可在大范圍自動獲取圖像，并能夠節(jié)約您的時間自動進行采集后分析。
• SmartSEM觸摸功能操作簡單，輕松易用，并提供交互式工作流程控制。
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• 智能化成像—性能高效

• 在生產(chǎn)控制及質(zhì)量控制過程中，EVO的工作效率非常高。
• 將典型的工作流程從 400 多步操作簡化為 15 步，以三種不同的放大倍率在 9 個樣本上對感興趣的 4 個點進行成像。
• 智能化自動成像技術(shù)為您提供感興趣區(qū)域然后進行自動化圖像采集。
• SmartBrowse會對您的實驗數(shù)據(jù)進行收集然后以交互式地圖的模式呈現(xiàn)出這些數(shù)據(jù)。這樣一來，您可以對樣本有一個更深入全面的認識。
  

• 靈活度高，易于使用

• 預(yù)留的升級路徑可以確保EVO能夠很好地應(yīng)對日益增長的應(yīng)用需求
• 樣品室規(guī)格與電子源的選擇可以確保EVO能夠更好地契合成像，能譜儀，波普儀及背散射電子探測器應(yīng)用的需求
• 經(jīng)久耐用的載物臺能夠為大型重型汽車制造業(yè)及航天航空器零部件成像提供出色的平臺
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  SmartSEM觸摸功能

  您可以從快速成像和降低的培訓費用中受益，而且學習周期短，支持自動化無人照管操作。一個有序的工作流程導(dǎo)向型設(shè)計會將任務(wù)設(shè)置在易于理解的群組內(nèi)。快速加載、導(dǎo)航、采集和瀏覽圖像都采用常見熟悉的觸摸手勢。直接在屏幕上簡單拖拽即可在大范圍興趣區(qū)域內(nèi)自動獲取圖像。當在小協(xié)作組內(nèi)工作時，一個“平放”的配置可以提升圖像共享和探索功能。

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• EVO MA

  EVO MA 擁有三種尺寸的樣品室及多種可選探測器和軟件。升級后的 EVO MA 可以進行全環(huán)境掃描電鏡操作（EVO LS）。

   

  

  EVO MA 10 是用于分析多種材料樣品的掃描電鏡。

  配備大行程 5 軸電動載物臺、多種輔助選件和易于操作的 SmartSEM 軟件；它是材料分析的出色成像解決方案。

  EVO MA 10 包括：

• 80x100x35mm 的 XYZ 軸行程
• 100mm 的zui大樣品高度
   

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  EVO MA 15 是適用于多種重量和尺寸樣品的掃描電鏡。

  應(yīng)用領(lǐng)域涵蓋地質(zhì)學、法醫(yī)學和失效分析。

  EVO MA 15 包括：

• 利用高級探測技術(shù)在變壓模式下獲取優(yōu)質(zhì)成像  
• EVO的級聯(lián)電流探測器中含有高靈敏度探測器電子，這樣能夠確保您即使在非常苛刻的變壓壞境下依然能夠獲取高清晰，低噪聲圖像 
•  級聯(lián)電流過載探測器作為EVO系列中出眾的一款產(chǎn)品，可以在高達3000pa的壓力下依然保持高品質(zhì)成像
• EVO探測器技術(shù)成為變壓模式及環(huán)境掃描電子顯微鏡的一個普遍標準
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• 125x125x50mm 的 XYZ 軸行程
• 145mm 的zui大樣品高度
• WDS 接口
  EVO MA 25 是適用于大尺寸和大重量樣品分析的掃描電鏡。

• 應(yīng)用領(lǐng)域涵蓋法醫(yī)學、博物館文物、汽車制造、航空、平板顯示器和印刷電路板。

  EVO MA 25 包括：

• 適用于130x130x60mm或130x130x80mm XYZ行程的BeamSleeve可選配置
• zui大樣品高度 210mm
• zui大重量和直徑分別為 5kg 和 300mm
• 4 象限和 5 象限背散射成像
• 同時支持兩個樣品室觀察視角

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• 集成式 EDS 解決方案：EVO Element

  高清晰度成像與低能量分析組合應(yīng)用

  EVO Element 是一種集成式 EDS 解決方案，擁有高可用性和低電壓靈敏度。僅需使用一臺計算機來控制 EDS 和 SEM，進而大大提升了該集成化解決方案的易用性。同時，借助專門為顯微鏡和 EDS 操作設(shè)計的用戶界面可實現(xiàn)并行控制。

• 集成化：高清晰度成像與快速分析相結(jié)合，通過zui大化可用性獲取*結(jié)果
• 定制化：根據(jù)不同的用戶需求定制軟件
• 靈敏度：*的氮化硅薄膜窗增強了低能量檢測性能

• 利用EVO MA的靈活度和分析成像，可將其廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域：

  表面磨損的滾珠軸承

  金屬與鋼材

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• 對金屬，骨骼以及非金屬進行成像并分析它們的內(nèi)部結(jié)構(gòu)
• 對精煉鋼與高級合金進行成分分析及晶體結(jié)構(gòu)分析
• 共面的能譜儀及背散射電子探測器幾何設(shè)計能夠為我們呈現(xiàn)晶界，晶相鑒別，應(yīng)變分析及滑移系活動的特性與顯微結(jié)構(gòu)

• 鎳硫化礦背散射圖像

  自然資源

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• 地質(zhì)樣本的形態(tài)，礦物及成分分析
• 在變壓模式下，使用級聯(lián)電流探測器與高分辨背散射電子探測器對重要樣本進行成像，獲取全面詳細的結(jié)構(gòu)及成分信息。
• 對清晰*的碳酸鹽地質(zhì)樣本進行陰極熒光成像

• 鋁納米纖維

  材料研究

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• 檢測和開發(fā)材料
• 分析材料性能，如耐蝕性、耐熱性及涂鍍性能
• 使用配有電子束減速技術(shù)的高分辨背散射電子探測器與共面能譜儀及背散射電子探測器對材料進行全面深入的分析 

• 集成電路上的表面缺陷

  半導(dǎo)體產(chǎn)品與電子產(chǎn)品

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• 對印刷電路板及板級部件進行常規(guī)檢查
• 進行電子束感生電流實驗來判定組件性能
• 對樣本的腐蝕，裂縫及污染進行可視化分析與成分分析

• 熔化的玻璃碎片

  取證

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• 對包含射擊殘留物，錢幣偽造及有毒物質(zhì)在內(nèi)的刑事證據(jù)進行分析
• 行業(yè)的能譜儀幾何設(shè)計為高性能GSR分析提供可兼容的第三方專業(yè)GSR分析軟件
• 為子彈或彈藥筒分析案例提供子彈對比載物臺

   復(fù)合航天材料纖維

   航天航空與汽車制造

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• 大型樣品室及靈活耐用的載物臺能夠很好地對大型重型汽車零部件進行處理
• 在變壓模式下對高級復(fù)合材料，鍍膜及織物進行分析
• 對粒子及發(fā)