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日立分析儀器(上海)有限公司

化工儀器網>產品展廳>分析儀器>光譜>微波等離子體光譜儀(MPT、MIP)>ICP6300 全譜直讀等離子體發射光譜儀

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ICP6300 全譜直讀等離子體發射光譜儀

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光譜

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濟南賽暢科學儀器有限公司座落于歷史悠久的文化名城-泉城濟南,是一家專業經營進口、國產氣相色譜、液相色譜、原子吸收、電子天平、顯微鏡、電化學儀器等實驗室分析儀器設備、通用儀器設備及配件耗材的高科技公司。公司創立伊始,即堅持立足分析領域行業,致力于將國內外*的分析儀器介紹給廣大國內用戶,目前公司用戶已經遍布科研機構、大專院校、、化工、食品、、農業、工礦、電力、冶金等行業和單位。
賽暢儀器公司堅持“追求卓YUE品質,真誠服務用戶”為原則,不斷創新,不斷開拓,以誠信為基礎,為科學為根本,已成為集儀器設備安裝、調試、培訓、服務、維修和技術咨詢為一體的專業化科技公司,在山東省同行業中樹立了良好的信譽與口啤。
 本公司渠道廣泛、實力雄厚、技術精通,專業支持,目前已經是十幾個國內外的總代理和一級代理權,產品種類豐富,主要代理品牌有:AgilentShimadzuWatersThermoFisherNouryonPhenomenexAvantorDr.Maisch Cytiva Trajan DaicelGEBDShimadzuPerkin ElmerQiagenMerieux illuminaYMCMN、島津GLIKASartoriusMettlerMerckAgelaKapaInterChimWhatman Eppendorf Markes SODA Sigma-Aldrich Satorius MilliporeAmresco、英國ELGADenverMilliporePallRheodyneSyltech、德國WTW、美國HACHCorningAxygenWatsonABINEBAcbCamHycloneHycloneNUNCSchottPallGilsonBRAND、澳大利亞Trajan、北京普析通用、天津拓普、上海精科、上海博迅、北京海光、上海伍豐、DIKMASepax、上海科哲、蘭州中科凱迪、大連化物所、大連依利特等。

公司經過幾年的發展,已經具備了一定的規模。客戶數量逐年增多,專業銷售人員和售后服務人員常年服務于山東地區多家高校以及科研單位、工廠企業等,現已發展成為山東地區專業的區域性科學儀器銷售機構。
濟南賽暢科學儀器有限公司將立足齊魯大地,著眼未來,攜手國內外儀器供應廠家為您提供優質的產品和*的服務,以期能夠成為您永遠值得依賴的合作伙伴。








氣相色譜儀整機、配件、消耗品(安捷倫、賽默飛、日本島津、PE等),液相色譜儀整機、配件、消耗品(島津、安捷倫、Waters、伍豐、賽智等),毛細管色譜柱(蘭化所、SGE、安捷倫、島津、Sigma-Aldrich等),分光光度計(可見、紫外、原子吸收等),電子天平,水分測定儀,烘箱,純水機,色譜相關配件耗材等。

熱電iCAP6300ICP*的智能攝譜功能可拓展鋼鐵、有色、地質等復雜基體用戶的使用范圍。在原料實時檢測、產品質量控制以及日后樣品信息再分析有著廣闊的應用空間。

熱電iCAP6300ICP分析樣品的同時,智能獲得樣品中所有譜線的指紋照片”,并與分析數據同時保存和調出

根據指紋照片

計算機自動檢索可能存在的元素--定性分析。

與標準譜圖想比較,自動給出半定量結果,誤差小于25%

照片相減,快速比較兩個樣品的差異或扣除空白,扣除基體。

二維或三維譜圖顯示,更易了解譜線周圍的干擾情況。

1. 定量、半定量分析

l 可方便地選擇元素的任意一條譜線或幾條譜線同時進行定量分析

l 由于檢測器是連續波長覆蓋,背景選擇點不受限制

l 在獲得分析數據的同時,給出個分析譜線的譜圖

l 可方便進行數據再處理,包括標準曲線

l 采用一元素多達5條譜線的半定量分析軟件,數據可靠

2.背景校正,干擾因子校正,結合譜線選擇的靈活性,能滿足各種樣品的分析要求

綜上所述,熱電 iCAP6300*的智能攝譜功能不僅能滿足合金材料所含高低含量元素的同時分析,還能進行若干個樣品成分的比對、未知樣品剖析,樣品含量的半定量分析等拓展功能。

 

熱電ICP6300的八大特點

經驗:熱電ICP6300的八大特點與瓦里安,PE對比

賽暢儀器公司轉載,以饗客戶

1、熱電公司是世界zui大的分析儀器公司;世界*臺ICP光譜儀的誕生地;世界zui大的ICP制造商;在和中國擁有zui多的用戶群,其中基體復雜行業如地質、鋼鐵、有色金屬、石化、材料等占到90%以上市場;zui完善的售后服務:在中國有4個辦事處,6個維修站30名專業維修工程師為全國600多家服務,真正做到24小時內維修響應;專職售后服務工程師為用戶提供快速周到的服務。

2、真正的全譜直讀型ICP光譜儀,166-847nm,zui寬的波長測量范圍,真正全譜連續覆蓋。

可測定波長范圍內的任意一條譜線,譜線選擇靈活,可方便地實現一元素多條譜線同時測定或高含量元素用弱譜線,微量元素用靈敏線的*分析方式。自動拓寬線性范圍,實現樣品中痕量、主量一次同時測定。背景校正點選擇靈活

PE2100:單道掃描型

PE5300235個通道的多道型

3、第六代高效率CID檢測器,291600個獨立檢測單元,真正二維分光,獲得三維譜圖

CID特性:真正全譜檢測;*溢出;隨機存取積分方式;非破壞性讀取

CID檢測器的強大優勢:1、每個檢測單元獨立檢測,獨自選擇*暴光時間,同時獲得痕量元素的高靈敏度和高含量元素的高精度2、全譜檢測,可獲得未知樣品的指紋照片,并*保存及再計算,獲得定性和半定量結果。

CID全譜譜線多的應用:1、譜線選擇余地寬,有效避開干擾;2、選擇弱線,不經稀釋直接進行高含量測定;3、實時背景校正;4、很易于短時間或間斷的進樣系統連接;

CCD檢測器:1、只能同時暴光,溢出現象嚴重,無法同時獲得高含量和低含量的結果;2、破壞性讀數,檢測后數據及消失,無法進行后分析和處理,更不可能獲得指紋照片*保存;3、只能獲得一維照片,譜線選擇太少,不能避開實際樣品中的干擾;4、只能用于樣品基體簡單且元素含量在同樣數量級的檢測。

SCD檢測器:CCD檢測器分成235段,僅能獲得6%的全譜信息,僅解決了段間的溢出,段內溢出仍沒解決,其他性能無任何改進。

PE2100,瓦里安715:簡單CCD檢測器

PE5300SCD檢測器

瓦里安735:改進的CCD檢測器,段間加了儲流器和防溢出槽

4、*的智能攝譜功能,*具有Research Mode研究模式的儀器

分析樣品的同時,拍攝全譜照片,智能獲得樣品中所有譜線的指紋照片”,并與分析數據同時保存和調出根據指紋照片

計算機自動檢索樣品中可能存在的元素——定性分析

與標準譜圖相比較,自動給出半定量結果。

可在將來獲得預先未準備測定的元素的結果。

照片相減,快速比較兩個樣品的差異確定樣品問題,或扣除空白,扣除基體

作為一種統一的文件進行保存, 以備今后進行進一步分析研究

二維或三維譜圖顯示,更易了解譜線周圍的干擾情況。

定量、半定量分析

可方便地選擇元素的任意一條譜線或幾條譜線同時進行定量分析

由于檢測器是連續波長覆蓋,背景選擇點不受限制

在獲得分析數據的同時,給出個分析譜線的譜圖

可方便進行數據再處理,包括標準曲線

采用一元素多達5條譜線的半定量分析軟件,數據可靠

背景校正,干擾因子校正,結合譜線選擇的靈活性,能滿足各種樣品的分析要求

其他公司無此性能,獲得樣品檢測結果的同時樣品信息*丟失,不能進行定性半定量

5、垂直火炬靈敏度zui高僅比水平火炬低1-2,非常小的基體效應,寬的線性范圍。特別適合農業、地質、礦產、冶金、石化、商檢等基體復雜的領域。

熱電ICP6300同時具有垂直、水平和雙向觀測方式可供選擇,垂直觀測背景干擾少,水平觀測靈敏度zui高TraceTech技術

其他公司一般不提供垂直觀測數據,因為其垂直觀測方式要比水平觀測差1-2個數量級;

提供的水平觀測數據靈敏度數據,僅為標準溶液及樣品無任何干擾的結果,在檢測實際樣品尤其是基體復雜樣品時,水平觀測的信燥比非常差。

另外水平觀測方式在應用于復雜樣品時,還存在炬管消耗嚴重的問題

PE2100:僅有雙向基于水平方式,其水平觀測采用空氣切割,需配空氣壓縮機,且炬管集碳和消耗zui嚴重,火炬受空氣影響不穩定,且空氣嚴重干擾紫外區元素的測定。

PE5300:可以選擇雙向和垂直,垂直靈敏度差,雙向技術同2100

瓦里安:水平和垂直,其垂直靈敏度zui差,常向客戶推薦水平,致使其用戶無法使用如河南省質檢所采購3年至今無法使用

6、全新光路系統zui簡單且全部固定、沒有任何可移動部件,光室僅為其他儀器的四分之一,四線矯正快速恒溫,不僅可以獲得的儀器穩定性和重復性,更可節約1/3—1/2的氬氣。

開機15分鐘即可開始測樣,快速和高性能同時兼得。

PE2100:光室單線矯正不恒溫,快速開機檢測是在犧牲了儀器穩定性和重復性基礎上實現的

PE5300:開機1小時才可作樣

7、*的光學分辨率:200nm處小于0.007nm

PE21000.009nm200nm

PE53000.006nm200nm 是利用31um的小狹縫并4次移動狹縫后所演示的分辨率,并非真實做樣時分辨率

63um128 um的分辨率? 實際應用中其分辨率為0.008

瓦里安:0.009nm200nm

瓦里安Vista僅用70個光譜級次,每個級次所包含的波段很寬,而中階梯分光光譜的分辨率在中央位置較好,離開中央位置越遠的譜線分辨越差,因此Vista的分辨率非常不*。提供的分辨率是那些處在中階梯分光光譜*位置的譜線,而同一級次在檢測器邊緣譜系的分辯率較差。

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