單晶硅標(biāo)準(zhǔn)樣
- 公司名稱 海德創(chuàng)業(yè)(北京)生物科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2017/4/7 13:33:46
- 訪問次數(shù) 773
Silicon Test Specimen單晶硅標(biāo)樣放大倍數(shù)校準(zhǔn)掃描電鏡標(biāo)樣
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單晶硅標(biāo)準(zhǔn)樣(Silicon Test Specimen)
單晶硅標(biāo)準(zhǔn)樣,即可用于掃描電鏡放大倍數(shù)的校準(zhǔn)(同時評估圖象扭曲度),也可用于光學(xué)顯微鏡。5mm x 5mm見方,每10µm (0.01mm)有一方格,格與格之間分割線大約為1.9µm寬,每隔500µm有一稍寬的分隔線(便于用于光學(xué)顯微鏡);分隔線由光蝕刻形成,約200nm深。不同樣品均可以直接放置于上,從而為低倍電鏡或者光鏡進行內(nèi)部標(biāo)定。
以下是產(chǎn)品的貨號、名稱和規(guī)格可根據(jù)掃描電鏡型號的不同選擇試樣及所帶的樣品臺。
產(chǎn)品訂購信息:
產(chǎn)品貨號 | 產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品規(guī)格 |
79502-01 | Silicon Test Specimen, Unmounted單晶硅試樣 | 1 |
79502-10 | Silicon Test Specimen, Unmounted | 10/pk |
79502-12 | Silicon Test Specimen on 12.5mm Pin Stub | 1 |
79502-20 | Silicon Test Specimen for Incident LM | 1 |
79502-30 | Calibration Certificate證書 (需另選擇單晶硅試樣) | 1 |