USM 32X系列探傷儀GE*授權銷售
美國GE作為無損檢測行業的，GE檢測科技以技術為先導，為客戶提供高效、優質和安全的檢測解決方案。其檢測技術涵蓋膠片系統、超聲、渦流、X射線、計算機射線成像（CR），數字化射線成像（DR）和工業內窺鏡等多個領域，對被檢測材料不會造成變形或損害，廣泛應用于航空航天、鋼鐵、電力、石油天然氣和汽車等行業。

USM 32X系列探傷儀GE*授權銷售

USM 32X系列探傷儀為GE檢測科技推出的一款功能實用良好，價格貼近中國用戶的通用型超聲波探傷儀。它秉承KrautKramer USM系列一貫精巧結實的設計風格和優良可靠的內在品質，具有中文/英文操作界面，操作直觀簡便。彩色半跨距顯示技術使缺陷定位更容易。同時，創新采用大容量鋰聚合物安全電池，總重量僅1.8公斤。 根據IP54標準設計的防護

USM 32X系列探傷儀規格參數：
zui小范圍：0.2 （鋼）[inch]   0,5 （鋼）[mm]
材料聲速：0.039-0.590[inch/μs]    1000-15000[m/s]
測量分辨率：0,001[inch]    0,01[mm]
報經：LED
數據集：100
數據存儲：傳送A掃描,測試報告,測量值,功能清單, PCX 或存儲A掃描實際設置
對話語言：20
接口：RS 232, 雙向
打印機驅動器：EPSON, Seiko DPU, HP DeskJet, HP LaserJet
電池：6.6 Ah內置Li-Ion電池,或6 節C（二號）電池（AlMn, NiCd, NiMH）
電池使用時間：Li-Ion電池為14小時,NiMH電池為3小時
電源組/電池充電器：通過一個外接電源進行（100 –240 V AC, 50 –60 Hz）
顯示屏：帶背光TFT彩色液晶顯示屏
顯示屏大小, 寬x 高：4.6 x 3.4 inch] （116 x 87[mm]）
顯示屏分辨率：320 x 240[pixels]
A掃描大小, 寬x 高：4.6 x 3.2[inch]  116 x 80[mm]   320 x 220（變焦距）[pixels]
尺寸, 寬x 高x 厚：10 x 6.7 x 3.9[inch]  255 x 177 x 100[mm]
重量：5[lbs]  2,2kg]
運行溫度：2-115[°F]   0-60[°C]
環境要求：IP 66
標準：EN 12668-1

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