代理牛津CMI500孔銅測厚儀、CMI165面銅測厚儀,CMI700孔面銅測厚儀,牛津ETP孔銅探頭,美國博曼X射線鍍層測厚儀,牛津鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)片,牛津膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片,國產(chǎn)線路板阻抗測試儀,milum MM610孔銅測試儀,Milum孔銅測厚儀探頭等產(chǎn)品。
牛津面銅測厚儀CMI700/CMI760用途:
牛津面銅測厚儀CMI700/CMI760適用于印制線路板孔內(nèi)及表面銅層厚度的非破壞性測量。CMI760擁有非常高的多功能性,它集快速精確、簡單易用、質(zhì)量可靠等優(yōu)勢于一體,同時它也是專為測量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的電鍍銅測量而設(shè)計。
產(chǎn)品優(yōu)勢:
1.:牛津臺式孔面銅測試儀實(shí)現(xiàn)孔銅和面銅鍍層厚度一體測量,一機(jī)多用,性價比高。
2:CMI700/CMI760采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確的測量,無需破壞樣品。
3:.測量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性,對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應(yīng)用需求。
4:強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計及處理功能。
5:探頭為牛津儀器產(chǎn)品。損耗的探針能在現(xiàn)場迅速、簡便地更換,將停機(jī)時間縮短。更換探針模塊遠(yuǎn)比更換整個探頭經(jīng)濟(jì),降低使用成本。
6:NIST(美國國家標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)委員會)認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片。
CMI700/CMI760技術(shù)參數(shù):
項目 | 規(guī)格 |
測量方法 | 電渦流及微電阻原理 |
尺寸 | 2921×2667×1397mm |
重量 | 2.79Kg |
顯示 | 帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示屏 |
搭配探頭 | SRP-4面銅探頭 ETP孔銅探頭 |
SRP-4探頭規(guī)格 | 準(zhǔn)確度:±1%(±0.1µm)參考標(biāo)準(zhǔn)片 精確度:化學(xué)銅——標(biāo)準(zhǔn)差0.2%;電鍍銅——標(biāo)準(zhǔn)差0.3% 分辨率:0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 0.1μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm" 測量厚度范圍:銅10μin – 10mil (0.25 μm – 254 μm),線性銅線寬范圍8mil – 3000mil(203 μm – 76.2mm) |
ETP探頭規(guī)格 | 準(zhǔn)確度:±0.01mil (0.25µm) <1mil (25µm) 精確度:1.2mil時,1.0%(典型情況下) 分辨率:0.01mil(0.25µm) 測量厚度范圍:0.08 – 4.0mils (2-102µm) 孔zui小直徑:35mils (899µm) |