CMI900 X-STRATA920 pcb板鍍層測厚儀標準校正片
參考價 | ¥ 2000 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 深圳市維創(chuàng)興電子科技有限公司
- 品牌
- 型號 CMI900 X-STRATA920
- 產地 美國
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2016/1/7 9:43:07
- 訪問次數(shù) 507
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!
代理牛津CMI500孔銅測厚儀、CMI165面銅測厚儀,CMI700孔面銅測厚儀,牛津ETP孔銅探頭,美國博曼X射線鍍層測厚儀,牛津鍍層厚度標準片,牛津膜厚儀標準片,國產線路板阻抗測試儀,milum MM610孔銅測試儀,Milum孔銅測厚儀探頭等產品。
鍍層測厚儀標準校正片
產品類型: 配件及消耗品
產品名稱: X熒光鍍層測厚儀標準片
產品型號: X熒光鍍層測厚儀CMI900 X-STRATA920適用的各種厚度、規(guī)格標準片
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
英國牛津標準片,Oxford標準片,CMI標準片,測厚儀標準片,校正片,又稱標準箔,膜厚片,通用于所有X射線鍍層測厚儀(進口品牌Fischer、Oxford(CMI)、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等,國產天瑞,納優(yōu)等)。
1. 薄膜片,單層測量品種:鎳(Ni);鉻(Cr);銅(Cu);鋅(Zn);Cd(鎘);錫(Sn);銀(Ag);金(Au);鈀(Pd)等,其它鍍層可定制.
2. 鍍層標準片:雙鍍層:Au/Ni/xx, 三鍍層:Au/Pd/Ni/xx等.
3. 合金標準片:合金鍍層測量:Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.
4. 測量厚度范圍:0.01~300μm.