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OMEGAMETER 600SMD 美國(guó)SCS離子污染測(cè)試儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 儀高南儀器(深圳)有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào) OMEGAMETER 600SMD
  • 產(chǎn)地 美國(guó)
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2023/6/14 20:45:13
  • 訪問次數(shù) 2377

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我公司是一精密測(cè)試儀器代理商,服務(wù)對(duì)象為半導(dǎo)體生產(chǎn)行業(yè),PCB 生產(chǎn)行業(yè)及一般電鍍行業(yè)等. 我集團(tuán)在中國(guó)和香港地區(qū)*代理韓國(guó)MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測(cè)厚儀及德國(guó)ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測(cè)厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量,而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量。以下是我集團(tuán)的其他主要產(chǎn)品:
美國(guó)INNOVX伊諾斯XRF-6500 RoHS分析儀
美國(guó)OMEGA 600SMD離子污染測(cè)試儀
美國(guó)UPA / VEECO非破壞性厚度測(cè)試儀
美國(guó)WALCHEM(禾威)電鍍藥液自動(dòng)添加系統(tǒng)
美國(guó)CECO PCB基材測(cè)試系統(tǒng)
美國(guó)ECI電鍍藥液分析系統(tǒng)
美國(guó)EXTEC研磨 / 拋光器材及消耗品
美國(guó)UNITRON工業(yè)用顯微鏡系統(tǒng)及表面光滑度測(cè)試儀
美國(guó)DICKSON溫濕度記錄儀
美國(guó)SPELLMAN 高壓電源供應(yīng)器
日本KETT磁感/高周波涂層測(cè)試儀
日本KYORITSU水質(zhì)離子測(cè)試包
英國(guó)JENWAY分光光度計(jì)
韓國(guó)SEC X-射線透視檢查儀
德國(guó)SCANDIA研磨 / 拋光器材及消耗品
德國(guó)WTW實(shí)驗(yàn)室 / 工業(yè)用水質(zhì)檢查系統(tǒng)
俄羅斯PTH-1/ITM-52手提式線路板孔銅測(cè)厚儀
新加坡Qmax CIMS 特性阻抗測(cè)試儀  
 其次:我司一直來致力培養(yǎng)了一批高級(jí)維修工程師,對(duì)各類測(cè)厚類儀器、儀表,金相設(shè)備、控制器等都有很深的研究,如貴司有購買同類產(chǎn)品,歡迎來我司資詢技術(shù)問題。


鍍厚測(cè)厚儀;庫侖測(cè)厚儀;PH控制器;在線水質(zhì)分析;電鍍藥液分析;電鍍藥液;元素分析儀;孔銅測(cè)厚儀;銅箔測(cè)量?jī)x;有害元素分析儀;水質(zhì)測(cè)試包

離子污染測(cè)試儀OMEGAMETER 600SMD

 

美國(guó)SCS OMEGAMETER 600SMD 離子污染測(cè)試儀
600SMD
離子污染測(cè)試儀通過監(jiān)控混合液中所含離子的電阻大小從而得出所所含離子的數(shù)量。
在測(cè)試的開始時(shí),系統(tǒng)的檢測(cè)器和記錄器會(huì)根據(jù)測(cè)試槽內(nèi)zui初的離子含量建立一個(gè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù),然后計(jì)算在測(cè)試的過程中增加的離子量,當(dāng)所有的離子溶解入測(cè)試液中時(shí),就可達(dá)到一個(gè)平衡的數(shù)值。在測(cè)試通孔的板時(shí),這些操作大約需要5-10分鐘,測(cè)試SMD的板時(shí),大約需要30-45分鐘。
測(cè)試結(jié)束后,zui后的離子含量水平,會(huì)編成一份微觀圖,包括NaCl/sq.inch 、測(cè)試的參數(shù)以及根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)是否合格情況,在進(jìn)行下一次測(cè)試之前,通過儀器內(nèi)的除離子系統(tǒng)清潔測(cè)試液,從而達(dá)到再生的功能,并且建立新的基準(zhǔn)水平。
600SMD
離子污染測(cè)試儀是*進(jìn)的儀器
600SMD
離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器,采用非破壞式的測(cè)試方法,適合用于檢測(cè)印制線路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約120°F并且結(jié)合了噴水器的沖刷,從而更有效的提高了清潔度,對(duì)于高密度的SMT產(chǎn)品可以達(dá)到90%--95%的清潔度。

 
OMEGA離子污染測(cè)試儀600SMD
一.說明:
顯示提示------屏幕清楚的顯示操作者輸入的信息,并且提供繼續(xù)操作的提示給測(cè)試者,以做出不同的條件設(shè)定。
系統(tǒng)打印機(jī)---------在測(cè)試進(jìn)行中,點(diǎn)陣打印機(jī)就會(huì)繪制一份離子含量曲線圖表,并且每十秒鐘數(shù)據(jù)點(diǎn)會(huì)標(biāo)識(shí)一次。檢測(cè)結(jié)束后,的離子含量水平、測(cè)試的參數(shù)以及所測(cè)樣品是否合格的情況都會(huì)打印出來。
穩(wěn)定的數(shù)據(jù)庫---------可以存儲(chǔ)30個(gè)樣品的數(shù)據(jù),包括樣品代碼、客戶代碼和樣品面積的大小。系統(tǒng)會(huì)保存zui近輸入的測(cè)試液的濃度。
加熱測(cè)試液----------加熱測(cè)試液是操作600SMD 離子污染測(cè)試儀的重要因素,當(dāng)提高測(cè)試液溫度至110-----125°F時(shí)就可以提高液體內(nèi)離子的分解速度。不銹鋼蓄水箱裝有發(fā)熱管及溫控器,當(dāng)水溫超過130°F時(shí)就會(huì)發(fā)出警告并停止加溫。系統(tǒng)預(yù)熱需要大約45分鐘,操作的溫度應(yīng)保持在110°F-------125°F,這主要是根據(jù)測(cè)試槽的大小以及周圍的溫度來調(diào)節(jié)的。
電子校驗(yàn)--------此儀器可用電阻測(cè)量系統(tǒng)予以確認(rèn),如果這個(gè)系統(tǒng)不能正常的工作,那么系統(tǒng)就會(huì)停止并且在顯示器上出現(xiàn)相應(yīng)的提示。
化學(xué)校驗(yàn)--------這個(gè)程序適合所有系統(tǒng)部件的操作確認(rèn),從測(cè)量探頭至系統(tǒng)打印機(jī)。
自動(dòng)停止--------操作者對(duì)測(cè)試循環(huán)的時(shí)間可作設(shè)定。如果未設(shè)定,那么系統(tǒng)在離子水平穩(wěn)定并且四分鐘保持不變就會(huì)自動(dòng)停止。
RS-232-C數(shù)據(jù)輸出系統(tǒng)---------IBM兼容部分安裝在儀器的后面可作數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換,電腦和儀器需要驅(qū)動(dòng)軟件,只有當(dāng)數(shù)據(jù)輸出完畢之后,系統(tǒng)才能進(jìn)行交互(目前尚未有此功能)。
測(cè)試槽--------根據(jù)樣品的表面大小、比例來選擇*的測(cè)試液量,可選擇四種不同大小的測(cè)試槽(8”×8”,12”×12”,12”×18”,18”×18”)。理想的操作是達(dá)到比例為35 cc/sq.inch。所有的測(cè)試槽都安裝有浸潤(rùn)式的噴水頭,這樣可以滲透至樣品的不同部位以及增加沖洗的速度。在測(cè)試槽的底部有多個(gè)進(jìn)水口。
液體量的指示器--------系統(tǒng)的測(cè)試槽標(biāo)有容積刻度,這樣就可以直接讀出系統(tǒng)液體量。
二.操作原理:
SMD600離子污染測(cè)試儀通過監(jiān)控混合液中所含離子的電阻大小從而得出所所含離子的數(shù)量。
在測(cè)試的開始時(shí),系統(tǒng)的檢測(cè)器和記錄器會(huì)根據(jù)測(cè)試槽內(nèi)zui初的離子含量建立一個(gè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù),然后計(jì)算在測(cè)試的過程中增加的離子量,當(dāng)所有的離子溶解入測(cè)試液中時(shí),就可達(dá)到一個(gè)平衡的數(shù)值。在測(cè)試通孔的板時(shí),這些操作大約需要5-10分鐘,測(cè)試SMD的板時(shí),大約需要30-45分鐘。
測(cè)試結(jié)素后,zui后的離子含量水平,會(huì)編成一份微觀圖,包括NaCl/sq.inch 、測(cè)試的參數(shù)以及根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)是否合格情況,在進(jìn)行下一次測(cè)試之前,通過儀器內(nèi)的除離子系統(tǒng)清潔測(cè)試液,從而達(dá)到再生的功能,并且建立新的基準(zhǔn)水平。
三. 600 SMD離子污染測(cè)試儀是*進(jìn)的儀器
600 SMD離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器,采用非破壞式的測(cè)試方法,適合用于檢測(cè)印制線路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約120°F并且結(jié)合了噴水器的沖刷,從而更有效的提高了清潔度,對(duì)于高密度的SMD產(chǎn)品可以達(dá)到90%--95%的清潔度。
四.特點(diǎn):
1.理器控制
2.?dāng)?shù)據(jù)條顯示,簡(jiǎn)單方便
3.可存儲(chǔ)30個(gè)樣品的數(shù)據(jù)
4.以曲線圖表的打印所有測(cè)試程序
5.自動(dòng)停止測(cè)試
6.加熱測(cè)試液以增加離子溶解度
7.測(cè)試槽中的噴水頭增加滲透性
8.快速測(cè)試
9.測(cè)試槽的大小可選擇
10.RS-232-C的電腦輸出端口(未有)
11.英制/公制的轉(zhuǎn)換

如需更詳細(xì)資料或報(bào)價(jià)請(qǐng)資詢:
86-755-82413890

李瑞軀

86-755-82413857
Mail:
a@egl.hk
skli@eastco-hk.com

: mfyu2010
Web:
www.eastco-hk。。com

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