ZT-CTH-27C 液態(tài)冷熱沖擊試驗箱
- 公司名稱 東莞市正臺測試儀器有限公司
- 品牌 ZTCK正臺
- 型號 ZT-CTH-27C
- 產(chǎn)地 橋頭鎮(zhèn)嶺頭社區(qū)工業(yè)大路西五巷2號E棟一樓
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/6/23 8:16:51
- 訪問次數(shù) 2210
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,電氣,綜合 |
液態(tài)冷熱沖擊試驗箱用途：
適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗（沖擊），適應于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.
滿足標準：
GJB150.5-86溫度沖擊試驗
GJB360.7-87溫度沖擊試驗
IEC68-2-14 試驗N：溫度變化
GJB150.4-86 低溫試驗箱試驗方法
GJB150.3-86 高溫試驗箱試驗方法
MIL-STD-202F美軍標準,電子及電氣試驗方法
MIL-STD-883E美軍標準,集成電路失效分析方法
GB 2423-22環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法
液體冷熱沖擊試驗箱主要參數(shù)
溫度暴露范圍：+60℃ ～ +150℃/-65℃ ～ 0℃
測試時間： ≥10min
溫度轉(zhuǎn)換時間：≥30S
測試方式：試樣放入不同溫度的液體介質(zhì)中
型號 | ZT-CTH-27C | ZT-CTH-56C |
模式 | 浸漬在液體介質(zhì)浴中，通過樣品籃的移動到達低溫或高溫槽內(nèi) | |
試驗樣品尺寸(mm) | 130×160×130 【W(wǎng)*H*D】 | 160×160×220 【W(wǎng)*H*D】 |
使用電源 | AC 3￠5W 380V 60/50Hz | |
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