JSM-7100F JSM-7100F場發射掃描電子顯微鏡
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- 公司名稱 東莞市協美電子有限公司
- 品牌
- 型號 JSM-7100F
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2018/6/3 6:36:40
- 訪問次數 2207
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東莞市協美電子有限公司Star Joy Limited主要代理JEOL 日本電子SEM、OXFORD 英國牛津、日本RHESCA公司產品,并提供使用客戶儀器相關技術轉移及專業的維修保養。讓您享受進口儀器的*性能及怡星的在地優質服務。
通用性強的肖特基場發射掃描電鏡 JSM-7100F場發射掃描電鏡,配備了長壽命、能獲得穩定的照射電子的浸沒式(in-lens)肖特基場發射電子槍以及在樣品附近不泄漏磁場的out-lens式物鏡。操作與通用型掃描電鏡(W-SEM)相似,因此即使是FESEM初學者使用起來也很方便。 | |
根據用戶需求定制的場發射掃描電鏡 由于是通用性很強的FESEM,因而有各種選配件可用: | |
LV???能夠在低真空下觀察的功能。適合不導電樣品的無噴鍍觀察和分析。 |
應用實例
產品規格
JSM-7100F/TTL | JSM-7100F | JSM-7100F/LV | |
分辨率 | 1.2 nm(30kV) 2.0 nm(1kV) 3.0 nm (15kV、5nA、WD10mm) | 1.2 nm(30kV) 3.0 nm(1kV) 3.0 nm (15kV、5nA、WD10mm) | 1.2 nm(30kV) 3.0 nm(1kV) 3.0 nm (15kV、5nA、WD10mm) 1.8 nm(30kV) (LV) |
放大倍率 | ×10~×1,000,000 | ×10~×1,000,000 | ×10~×1,000,000 |
加速電壓 | 0.1kV~30kV | 0.2kV~30kV | 0.2kV~30kV |
樣品照射電流 | 數p A~200nA(15kV) | 數p A~200nA(15kV) | 數pA~200nA(15kV) 數pA~20nA(Orifice IN) |
自動光闌角*控制透鏡 | 內置 | ||
檢測器 | 高位檢測器(UED) 低位檢測器(LED) | 低位檢測器(LED) | 低位檢測器(LED) |
能量過濾器 | UED過濾器電壓可變功能內置 | --- | --- |
Gentle Beam (柔和光束) | 內置 | ||
數字圖像 | 圖像顯示區域 1,280×960像素, 800×600像素 | ||
樣品交換室 | 內置 | ||
樣品臺 | 全對中測角樣品臺 5軸馬達驅動 | ||
X-Y | X: 70mm、Y: 50mm | ||
傾斜 | -5 to +70° | ||
旋轉 | 360° | ||
工作距離 | 2mm ~ 41mm | ||
真空系統 | SIP x 2臺, TMP, RP x 1臺 | SIP x 2臺, TMP, RP x 1臺 | SIP x 2臺, TMP, RP x 2臺 |
節能設計 | 正常運行時: 1.1kVA 節能模式時: 0.7kV |