Nanocalc 系列膜厚測量儀
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- 公司名稱 北京征程創拓科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 產地 美國
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2024/11/14 10:03:03
- 訪問次數 3280
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Nanocalc系列膜厚測量儀的原理:
利用白光干涉測量法的原理,NanoCalc-2000用一個寬光譜的光源來測得不同波長的反射數據,由于反射率n和消光系數k隨膜厚的不同而變化,NanoCalc-2000根據這一特性來進行曲線擬合從而求得膜厚。在NanoCalc-2000中,不同類型材料的相應參數通過不同的模型來描述,從而保證了不同類型材料膜厚測量的準確性。
Nanocalc系列膜厚測量儀的特點:
- UV/VIS/NIR高分辨率的配置
- 測量準確度在1nm,精度在0.1nm
- 可測量4層薄膜的任意3層
- 薄膜測量zui小可至10nm,zui大可至400um
- 可測量zui小1nm厚的透明金屬層
- 提供用于復雜外形材料測量的試驗臺及附件
- 對表面缺陷和光滑度不敏感
- 龐大的材質數據庫,保證各種材料的精確測量
NanoCalc-2000-UV/VIS/NIR膜厚測量儀的技術參數: