創新點

1.保護MyAutoView的光斑可視功能,可對薄膜樣品直接觀測測量光斑和樣品表面,簡單直接,提高測量精確度。直接觀測測量點,可極快地準確判斷測量點位置,避免光斑落在污點處,同時對于有圖形的薄膜，配合自動平臺，可以準確地定位微光斑，快速地進行橢偏測量。 2.全自動樣品水平調整系統,可自動找平測量表面,使測量更簡單。 3.Uvisel 2采用反射式結構(無色差)微光斑技術,對于激發波長均保證光斑大小相同。8種光斑尺寸,包括目前世界上zui小的35um無色差微光斑,*地提供了空間分辨率。 4.190-1000nm分光系統采用雙級單色儀,具有更高的雜散光抑制率,有效減少測量時間,保證數據在高精度,高信噪比下快速測量。 5.采用新的雙級分光系統和電學反饋系統,使整體測量速度大幅提高,190-1000nm僅需60秒就可得到高精度,高分辨率測試結果,190-2100nm范圍僅需5分鐘。

儀器介紹：     

     UVISEL2是一款*革新的全自動光譜型橢偏儀。繼承并發展了經典機型UVISEL的高準確性、高靈敏度和高穩定性等技術特點的同時，配備革新的可視系統，多達8個尺寸微光斑選項，zui小達35×85μm2，適用于所有薄膜材料研究領域。是目前市場上*的機型。

技術參數：

·光譜范圍：190-2100 nm

·8種光斑尺寸: zui小35 X 85 um

·探測器：3個獨立探測器，分別優化紫外，可見和近紅外

·自動樣品臺尺寸：200mm X 200mm；XYZ方向自動調節; Z軸高度>35mm

·樣品水平度自動調整

·自動量角器：變角范圍35°- 90°，全自動調整，zui小步長0.01°

主要特點：

·*自動化設計，自動對焦、校正

·全新光路、電路設計，測量精度更高，速度更快

·50KHz高頻PEM相調制技術，測量光路中無運動部件

·雙光柵光譜儀系統，雜散光抑制水平高

·8個尺寸微光斑，可視技術

·自動平臺樣品掃描成像