可程式高低溫箱
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 常州市國(guó)立試驗(yàn)設(shè)備研究所
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 常州
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/7/29 16:10:52
- 訪問(wèn)次數(shù) 1660
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高低溫試驗(yàn)箱；高低溫交變?cè)囼?yàn)箱；交變濕熱試驗(yàn)箱；恒定濕熱試驗(yàn)箱；鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱；熱老化試驗(yàn)箱；砂塵試驗(yàn)箱；紫外光耐氣候試驗(yàn)箱；生化培養(yǎng)箱；光照培養(yǎng)箱；淋雨試驗(yàn)箱；擺管淋雨裝置；氙燈耐氣候試驗(yàn)箱；紫外光耐氣候試驗(yàn)箱；氙燈試驗(yàn)箱；氣浴搖床；水浴恒溫振蕩器；恒溫水浴鍋；離心機(jī);攪拌器;各類非標(biāo)試驗(yàn)室等可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備
可程式高低溫箱適用于對(duì)電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料塑膠制品、電器、儀表、食品、車輛、金屬、化學(xué)、建材、航天、醫(yī)療、以及各種電子元器件進(jìn)行高溫、低溫、高低溫漸變，以及溫度循環(huán)變化、表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用性能和貯存的適應(yīng)性、等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。
特點(diǎn):
.沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)， 做冷熱沖擊測(cè)試。
.高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)， zui大時(shí)間可達(dá)9999分鐘， zui大循環(huán)周期可達(dá)9999次。
.系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)沖擊或手動(dòng)選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
.采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面，操作簡(jiǎn)易.
.可連接電腦， 記錄儀僅為選購(gòu)件。
.控制器的各項(xiàng)操作皆以人機(jī)觸控方式進(jìn)行。
.設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分， 各區(qū)之箱體釆*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)。
.冷卻采二元冷凍系統(tǒng)， 降溫效果快速， 冷卻方式為風(fēng)冷式或水冷式兩種。
.人性化的圖控介面讓使用者更容易使用及了解機(jī)械狀態(tài)。
.提供及時(shí)線上說(shuō)明， 免除閱讀說(shuō)明書的困擾。
.超大溫度值顯示,提供*的顯示效果.
技術(shù)參數(shù)：
.溫度范圍（測(cè)試區(qū)）：（150℃～A：-45℃；B：-55℃；C：-65℃）；
.（高溫區(qū)： 60℃～ 150℃；低溫區(qū)-10℃～-65℃）
.保溫材質(zhì)：耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料
.系統(tǒng)：P．I．D S．S．R 微電腦平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)
.溫度回復(fù)時(shí)間／轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤5min內(nèi) / ≤l0秒內(nèi)
.溫度控制精度／分布精度：±0.5℃／±2.0℃
.冷卻系統(tǒng)：半密閉式雙段壓縮機(jī)（水冷式）／全密閉式雙段壓縮機(jī)（風(fēng)冷式）
.試驗(yàn)箱內(nèi)部尺寸：按客戶要求制造
.升溫時(shí)間（蓄熱區(qū)）：RT～200℃約需35min
.降溫時(shí)間（蓄冷區(qū)）：RT～-70℃約需85min
可程式高低溫箱由箱體、風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)、加溫系統(tǒng)和控濕系統(tǒng)組成。
風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)：一般采用可調(diào)節(jié)送風(fēng)方向的結(jié)構(gòu)；
加濕系統(tǒng)：有采用鍋爐加濕的和表面蒸發(fā)二種；
降溫、去濕系統(tǒng)：采用空調(diào)工況制冷結(jié)構(gòu)；
加熱系統(tǒng)：采用電熱鰭片加熱和電爐絲直接加熱二種結(jié)構(gòu)；
溫濕度測(cè)試方法：采用干濕球測(cè)試方法，也有用濕度傳感器直接測(cè)量方法；
控制和顯示操作界面：采用溫濕度分開獨(dú)立和溫濕度組合控制器等方式。
滿足標(biāo)準(zhǔn)：
●GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
● GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
● GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
●GB 10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
● GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備導(dǎo)則
●GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)
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