LED測試儀器產品名稱:LED LM-80大功率全自動壽命老化測試系統
 LED LM-80大功率全自動壽命老化測試系統產品簡介：
 內部尺寸（標配） 500*300*300（W*H*D）MM
 外部尺寸（標配） 1580*1520*500（H*W*D）MM
 可視窗口 220*180（W*H）MM
 半導體工作臺的尺寸（標配） 每個單元：153*220（L*W）MM
 設備輸入電源功耗 AC38V三項供電設備自身的功耗子8KW（按標準配置）
 使用環境要求 5°C ≤ 環境溫度 ≤ 35 °C ，安裝在有空調控制和排風抽風裝置
 工作臺散熱方式 風扇制冷
 LED LM-80大功率全自動壽命老化測試系統系統參數:
 LED LM-80大功率全自動壽命老化測試系統溫度，濕度，環境參數:
 Ts 溫度范圍 常溫 ～+150°C
 溫度波動度 ±0.5°C
 溫度均勻度 ±1.5°C
 溫度偏差 ±0.3°C
 溫度分辨率 0.01°C
 濕度范圍 <65%RH
 箱體內氣流 <0.3m/s
 LED LM-80大功率全自動壽命老化測試系統測試容量參數:
 獨立工作間測試容量112W
 zui大測試功率為6*112W
 LED LM-80大功率全自動壽命老化測試系統測試周期，測試時間 控制參數:
 測試周期（小時） 6000小時，7000小時，8000小時，9000小時，10000小時以上
 測試間隔（小時） 1，10，100，1000，2000，3000，4000小時...
 系統老化時間設定 設定開/關機的實時時間，格式為2012-07-12 15：02
 老化時間分辨率 分鐘
 老化產品分組 6
 總時間不確定度 ±0.5%
 LED LM-80大功率全自動壽命老化測試系統溫度實時采集，遠程監測 系統參數:
 系統穩定采集通道數 標準配置40通道YOKOGAWA MW100數據采集控制器（40以上選配）
 高速測量 zui短測量周期為10ms
 多測量周期 一個主單元可以混合3種測量周期zui大可支持2GB的CF卡。*6(快閃存儲卡),使用2GB的CF卡，在60ch/100ms時可連續采集數據約10天，60ch/1s時可連續采集約3個月
 穩定采集時間分辨率 10ms-500ms
 溫度精度 ±0.1°C
 LED LM-80大功率全自動壽命老化測試系統電流源系統參數:
 通道數 標配40個通道（選配zui大可達1000個）
 電流量程 0-1A，0-10A，0-20A以上
 通道間連接方式 通道間可以并聯以增大電流
 分辨率 1mA
 波紋 電壓的紋波噪聲不超過輸出電壓的2%
 老化電流精度 老化測試時輸入電流應控制在額定電流的±3%
 測試電流精度 光學測試時輸入電流應控制在額定電流的±0.5%
 LED LM-80大功率全自動壽命老化測試系統電壓表系統參數:
 電壓量程 0-150V(選配可達400V)
 分辨率 0.1V
 LED LM-80大功率全自動壽命老化測試系統壽命測試板系統參數:
 兼容性良好 可以依據不同尺寸的測試樣品，在一定范圍內調整壽命測試板，夾持樣品
 安裝LED 一個壽命測試板可以安裝多顆LED，方便快捷
 拆卸要求 壽命測試板可以安裝于溫度箱，也可以安裝于光度測量系統中，以減小用戶工作量，實現在線測試
 測量裝卸 在老化時安裝多顆LED，在光度測量時不需要拆卸LED,可以對固定在壽命測試板上的LED直接進行光度精確測量