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日立分析儀器(上海)有限公司

化工儀器網>產品展廳>分析儀器>光譜>微波等離子體光譜儀(MPT、MIP)>HK-2000 金屬材料分析ICP光譜儀

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HK-2000 金屬材料分析ICP光譜儀

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北京華科易通分析儀器有限公司是ICP光譜儀ICP等離子光譜儀單道掃描光譜儀微量元素光譜儀電感耦合等離子光譜儀的專業制造廠商,是集科研、生產、銷售、技術服務于一體的高科技企業。HK-2000型電感耦合等離子體發射光譜儀,是我公司在傳統電感耦合等離子體發射光譜儀技術的基礎上,吸收較早技術成果研究開發高精度、高靈敏度和高穩定性的電感耦合等離子體發射光譜儀。公司以其多年從事這項科研技術隊伍的真誠與共、協同發展不斷創新的團隊精神為后盾,以其豐富的工作經驗和扎實的專業知識完善熱情的服務為保障,為廣大用戶提供解決方案。
HK-2000作為大型精密無機分析儀器,廣泛應用于稀土分析、貴金屬分析、有色金屬、合金材料、電子產品、醫藥衛生、冶金、地質、土壤、石油、化工、商檢、環保等部門和釹鐵硼、硅、硅鐵、鎢、鉬等,從超微量到常量的定性或定量分析。它集光、機、電、計算機、分析技術于一體的*產品,具有測試速度快、測量范圍寬、分析結果準確可靠等特點。由于采用了計算機技術,儀器的智能化、屏幕顯示的圖、文及數據的采集、處理等都達到了目前國內*水平,是諸多行業理想的分析儀器。

電感耦合等離子發射光譜儀(ICP-AES),ICP光譜儀,單道掃描光譜儀,微量元素分析儀器ICP,環保電鍍液分析ICP光譜儀,電池材料分析ICP光譜儀,離子膜燒堿ICP光譜儀.

1.金屬材料分析ICP光譜儀主要特點

² 優良的光學系統,*的控制系統:保證定位準確,信背比優良;                                         

² 采用進口的關鍵部件:確保儀器的精確度和靈敏度;

² 極小的基體效應:99%的試樣不用分離基體;

² 測量范圍寬:超微量到常量的分析;

² 良好的測量精度:相對標準偏差RSD≤1.50%;

² 穩定性:相對標準偏差RSD≤2.00% ;

² 分析速度快:每分鐘元素順序掃描zui快達25個以上;

² 分析元素之多:可分析72種金屬元素和部分非金屬元素;

² 可做定性或定量分析;

² 便捷的分析軟件:基于Windows XP平臺下的第三代中文版或英文版操作軟件,使操作更加簡便容易,軟件無需安裝可直接使用,數據處理系統提供多種功能,對輸出數據可任意選擇打印。

2.金屬材料分析ICP光譜儀組成及工作原理

原子發射光譜法是光學分析法中產生與發展zui早的一種。

 原子發射光譜法是利用物質在熱激發或電激發下,每種元素的原子或離子發射特征光譜來判斷物質的組成,而進行元素的定性與定量分析的方法。

HK-2000型等離子體發射光譜儀,是單、多元素順序測量的分析測試儀器。該儀器由掃描分光器、射頻發生器、試樣引入系統、光電轉換、控制系統、數據處理系統、分析操作軟件組成。

等離子體是在三重同心石英炬管中產生。炬管內分別以切向通入氬氣,炬管上部繞有紫銅負載線圈(內通冷卻水)當高頻發生器產生的高頻電流(工作頻率40.68MHz功率1kW左右)通過線圈時,其周圍產生交變磁場,使少量氬氣電離產生電子和離子,在磁場作用下加速運動與其它中性原子碰撞,產生更多的電子和離子,在炬管內形成渦流,在電火花作用下形成等離子炬(即等離子體),這種等離子體溫度可達8000K以上。待測水溶液經噴霧器形成氣溶膠進入石英炬管中心通道。原子受到外界能量的作用下,使原子電離,即處于激發態的原子十分不穩定。從較高能級躍遷到基態,將釋放出能量。這種能量是以一定波長的電磁波的形式輻射出去。不同元素產生不同的特征光譜。這些特征光譜通過透鏡射到分光器中的光柵上,分光后的待測元素特征譜線光強,通過計算由步進電機轉動光柵傳動機構,準確定位于出口狹縫處,光電倍增管將該譜線光強轉變為光電流,再經電路處理和V/F轉換后,由計算機進行數據處理,zui后由打印機打出分析結果。

分析的優點:

 ① 具有多元素同時檢測能力。可同時測定一個樣品中的多種元素。

 ② 分析速度快。可在幾分鐘內同時對幾十種元素進行定量分析。

 ③ 檢出限低。一般光源可達10~0.1mg/mL, 電感耦合高頻等離子體原子發射光譜(ICP-AES)檢出限可達ng/mL級。

 ④準確度較高。一般光源相對誤差約為5%~10%,ICP-AES相對誤差可達l%以下。

⑤試樣消耗少。

 ⑥ ICP光源校準曲線線性范圍寬可達4~6個數量級。

3.?主要技術指標

掃描范圍 :光柵3600條刻線/mm,掃描范圍(190~500)nm

           光柵2400條刻線/mm,掃描范圍(190~800)nm

波長示值誤差:±0.03nm,重復性≤0.005nm。

zui小光譜帶寬:Mn 257.610nm,譜線峰半高寬≤0.008nm。

重復性:相對標準偏差 RSD≤1.50%

穩定性:相對標準偏差 RSD≤2.00% 

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