SE-102 橢偏儀
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- 公司名稱 北京飛凱曼科技有限公司
- 品牌
- 型號 SE-102
- 產地 13718810335 Info@pcm-bj.com QQ1606737747
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2017/7/15 16:46:22
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北京飛凱曼公司提供光子晶體探測器型橢偏儀。這種光子晶體探測器型的橢偏儀是有日本PHL公司*,并應用到的測試中。日本PHL公司在光子晶體的研究和制造領域世界,由此開發出的光子晶體探測器型具有測試速度快、測量準確、免維護、價格低廉等特點已經在光學薄膜、半導體薄膜、有機薄膜等領域有著廣泛的應用。該可快速準確測量薄膜的厚度和折射率的分布。
相比傳統的光譜型,光子晶體探測器型避免了探測器的機械運動。使得測試速度更快、測試更加準確、成本更加低廉。
SE-101,SE-102型都是經濟小巧的桌面式,SE-101主要用于薄膜的單點測量,SE-102則可進行點、線和面的測量。該系列設備使用簡單,免維護,價格低廉,特別適合于實驗室和工藝線的在線膜厚檢測。
技術規格:
型號 | SE-101 | SE-102 |
重復性精度 | 0.1nm(厚度),0.001(折射率) | |
測量速度 | 0.05秒/點 | |
光源 | 636nm半導體激光器 | |
測量點尺寸 | 1mm2 | 點線測量:0.5mm2 面測量:0.1mm2 |
入射角 | 70度 | |
樣品尺寸 | 4英寸 | 4英寸,1軸自動,2軸手動 |
儀器尺寸和重量 | 250x175x218.3mm/4Kg | 300x235x218.3mm/9Kg |
數據接口 | RS-232C,千兆以太網 | |
電源 | AC100-240V(50/60Hz) | |
軟件 | SE-View |
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