傅立葉FT-IR光譜儀

兌現(xiàn)FT-IR的承諾

l 靈敏度-zui大信噪比>100000：1rms持續(xù)信號平均值。

l 基線穩(wěn)定性——短期*線的偏差<0.1%；——無*漂移；——溫度系數(shù)：,1%/℃在4000cm-1處。

l 凈化穩(wěn)定性——<0.0001A采用*的水蒸氣波動時(shí)延zui小的Arid—Zone干取樣室。

l 分辨率優(yōu)于1cm-1。

l 3年內(nèi)無需進(jìn)行計(jì)劃性維護(hù)：掃描儀終生保修。

l 配備基于Windows的數(shù)據(jù)處理和分析軟件。

FTLA2000-100

經(jīng)濟(jì)型高性能FT-IR

    FTLA2000-100型產(chǎn)品是極其成功的FTLA2000系列實(shí)驗(yàn)室FT-IR光譜儀產(chǎn)品家族中的中紅外產(chǎn)品。該產(chǎn)品的光譜性能高于其它價(jià)格相當(dāng)?shù)?/font>FT-IR產(chǎn)品。由于采用了*性工廠校準(zhǔn)和密封技術(shù)，FTLA2000系列產(chǎn)品具有非常穩(wěn)定的光譜響應(yīng)性，其光譜再現(xiàn)性高于NIST標(biāo)準(zhǔn)參考資料1921中規(guī)定的驗(yàn)證指標(biāo)。分析曲線可直接從一臺FTLA2000系列的FT-IR光譜儀轉(zhuǎn)移至另一臺光譜儀，無需任何調(diào)整。

    FTLA2000-100可與您的所有優(yōu)選附件兼容，尤其是Spectra-Tech ARK（衰減全反射套件）和GEMINI混合式ATR和漫反射附件。建議在對膏劑、普通和粘性液體進(jìn)行分析時(shí)使用ATR，對粉狀樣品進(jìn)行分析時(shí)建議使用漫反射方式（DRIFT）。

FTLA2000-102

用于遠(yuǎn)紅外分析的zui高靈敏度FT-IR光譜儀

FTLA2000-102型光譜儀代表著中紅外和遠(yuǎn)紅外光譜儀在可靠性和性能規(guī)格方面的新標(biāo)準(zhǔn)。FTLA2000系列干涉儀器*的構(gòu)造，造就了Csl光學(xué)裝置多年連續(xù)*使用的輝煌歷史。其在200cm-1至700cm-1區(qū)段內(nèi)的穩(wěn)定性和信噪比高于配備聚酯薄膜或柵格式光束分離器的FT-IR光譜儀。DTGS檢測器配備了Csl窗，因此僅需簡單設(shè)置，即可覆蓋整個(gè)波長范圍。Arid-Zone干區(qū)樣品室高效而穩(wěn)定的吹掃技術(shù)，對于水蒸氣吸收特別強(qiáng)的200cm-1波段的可靠運(yùn)行具有至關(guān)重要的作用。光譜再現(xiàn)性超過了NIST標(biāo)準(zhǔn)參考資料1921中規(guī)定的驗(yàn)證指標(biāo)。分析標(biāo)準(zhǔn)曲線無需任何調(diào)整即可直接從一臺FTLA2000系列的FT-IR光譜儀傳輸至另外一臺光譜儀。FTLA2000-102zui適于利用Csl粉?；颡?dú)立式潔凈盤對催化劑中弱離子鍵進(jìn)行分析研究。各種液體的分析可在配備Csl或聚乙烯窗的檢測池中進(jìn)行。對于漆料碎屑或其他小型樣品的分析，建議使用經(jīng)過吹掃的聚光器在金剛砧座中進(jìn)行。

FTLA2000-104

對濕度不敏感的FT—IR光譜儀

FT—IR讓您！

    作為ABB極其成功的FTLA2000系列實(shí)驗(yàn)室FT-IR光譜儀產(chǎn)品家族中的一員，FTLA2000-104型光譜儀僅使用非吸潮性光學(xué)器件，zui適于在無法保證低濕度的環(huán)境中使用，已經(jīng)在生產(chǎn)線旁QA分析和各種現(xiàn)場環(huán)境下的便攜式分析應(yīng)用領(lǐng)域得到成功應(yīng)用。該產(chǎn)品具有*的靈敏度，波長范圍在6500至500cm-1。光譜再現(xiàn)性超過了NIST標(biāo)準(zhǔn)參考資料1921中規(guī)定的驗(yàn)證指標(biāo)。分析標(biāo)準(zhǔn)曲線無需任何調(diào)整即可直接從一臺FTLA2000系列的FT-IR光譜儀傳輸至另外一臺光譜儀。

更換已退化的吸潮 光學(xué)器件，是FT-IR光譜儀zui頻繁和zui昂貴的維護(hù)項(xiàng)目。但是，FTLA2000-104型產(chǎn)品不再需要進(jìn)行此項(xiàng)維護(hù)。您不用再對光譜儀憂心忡忡，盡可將精力集中于分析工作。

FTLA2000-154S

測量范圍更寬對濕度不敏感的FT-IR光譜儀

FT—IR讓您！

    作為ABB極其成功的FTLA2000系列實(shí)驗(yàn)室FT-IR光譜儀產(chǎn)品家族中的一員，FTLA2000-154S型光譜儀僅使用非吸潮性光學(xué)器件，zui適于在無法保證低濕度的環(huán)境中使用，已經(jīng)在生產(chǎn)線旁QA分析和各種現(xiàn)場環(huán)境下的便攜式分析應(yīng)用領(lǐng)域得到成功應(yīng)用。該產(chǎn)品具有*的靈敏度，波長范圍在6500至500cm-1。光譜再現(xiàn)性超過了NIST標(biāo)準(zhǔn)參考資料1921中規(guī)定的驗(yàn)證指標(biāo)。分析標(biāo)準(zhǔn)曲線無需任何調(diào)整即可直接從一臺FTLA2000系列的FT-IR光譜儀傳輸至另外一臺光譜儀。

更換已退化的吸潮 光學(xué)器件，是FT-IR光譜儀zui頻繁和zui昂貴的維護(hù)項(xiàng)目。但是，FTLA2000-154S型產(chǎn)品不再需要進(jìn)行此項(xiàng)維護(hù)。您不用再對光譜儀憂心忡忡，盡可將精力集中于分析工作。

FTLA2000-160

近紅外分析FT-IR光譜儀

FTLA2000-160D型光譜儀是近紅外分析領(lǐng)域具有zui出眾的FT-NIR準(zhǔn)確性、重復(fù)性和穩(wěn)定性的*。該產(chǎn)品是專門針對經(jīng)濟(jì)的近紅外分析作業(yè)而設(shè)計(jì)的，內(nèi)置石英鹵素光源和檢測范圍更大的DTGS檢測器。這一組合為大多數(shù)樣品室分析作業(yè)獲得優(yōu)異的分析結(jié)果創(chuàng)造了條件。在散射性較強(qiáng)的樣品的取樣。漫反射取樣和光纖耦合取樣中，建議選用TE—制冷型InAvs檢測器，不同儀器自檢的光譜再現(xiàn)性與重復(fù)性非常接近，這對于開發(fā)多臺FT-IR參與的分析方法具有重要作用。分析標(biāo)準(zhǔn)曲線無需任何調(diào)整即可直接從一臺FTLA2000系列的FT-IR光譜儀傳輸至另外一臺裝置。

FTLA2000-160D型光譜儀為用來確定OH值的HOval分析儀奠定了基礎(chǔ)。采用溫控、一次性小玻璃瓶的取樣技術(shù)zui適于用來分析具有較苛刻分析要求的有機(jī)液體樣品。粉末狀樣品的近紅外分析可使用powderSamplir完成。樣品質(zhì)地粗糙時(shí)，建議使用漫反射方式Diffusir。

FTLA系列FT-IR光譜儀的技術(shù)規(guī)格和特點(diǎn)

產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格

• *分辨率：0.7cm-1，無切趾
• 波數(shù)再現(xiàn)性：中紅外型：.01cm-1在1918cm-1

                                  處近紅外型：0.04cm-1在7300cm-1

                                處波數(shù)重復(fù)性：±0.002cm-1（±2σ）

• 標(biāo)準(zhǔn)曲線傳輸性測試：所有NIR型均可在28℃±1的溫度條件下在0.5mm試驗(yàn)池中再現(xiàn)甲苯吸收光譜（4100-6000cm-1），與其他任一NIR儀器相比偏差不超過0.002A
• 在掃描時(shí)間為1分鐘、分辨率為4cm-1和開放式光束的條件下，FTA2000-100型在峰值響應(yīng)度喜愛的典型中紅外型號與RMS-噪聲比為30，000：1
• 在掃描時(shí)間為1分鐘，分辨率為16cm-1和開放式光束的條件下，峰值響應(yīng)度下的典型近紅外RMS-噪聲吸收率為4micro-A.
• 連續(xù)2次檢測，MIR型和NIR型光譜儀的*線再現(xiàn)性均在0.1%以內(nèi)（范圍分別為4000至550cm-1和8000至4500cm-1）.
• 溫度變化是*影響*線*穩(wěn)定性的一個(gè)因素。*線變化的溫度系數(shù)為：近紅外型光譜儀在8000cm-1處和中紅外型光譜儀在4000cm-1處均為1%/1℃。
• 分辨率可按2X步長從1（NIR為2）至64cm-1（變跡分辨率）的范圍內(nèi)選擇。
• 兩次掃描時(shí)間可選擇：分辨率為4cm-1時(shí)，DTGS檢測器為3秒，快速半導(dǎo)體檢測器為1.2秒。
• Arid-Zone干區(qū)樣品室的伸縮式吹掃管中的逆流式吹掃流可對樣品進(jìn)行連續(xù)吹掃。Arid-Zone采用“開放式結(jié)構(gòu)”。可為各種附件提供充足空間。
• 紅外光束對樣品的焦距為f/4.5。
• 紅外光束對樣品的額定焦距為5mm。
• 光束截捕處的光束直徑為2.5cm。
• zui大光束發(fā)散度：90豪弧度。
• 樣品焦距為底座以上3.5in（8.9cm）。
• 附件自由空間為樣品焦距每側(cè)4in（10cm）。
• 總尺寸：20''（寬）×22-1/4''（深）×12''（高）（51cm×56cm×30cm）
• 重復(fù)：97ibs.（44kg）。

干涉儀

• 四端口光學(xué)設(shè)計(jì)，消除了反調(diào)制引發(fā)的假象問題。
• 干涉儀采用設(shè)計(jì)的邁克遜干涉儀，在一個(gè)“Y型”叉骨式擺臂上安裝了2個(gè)直角反射鏡。
•  干涉儀和輸入/輸出光學(xué)裝置在工廠已預(yù)先校準(zhǔn)，用戶無需做任何調(diào)節(jié)。
•  通過旋轉(zhuǎn)安裝在由感應(yīng)電機(jī)驅(qū)動的曲樞軸承上的擺臂，即可實(shí)現(xiàn)平滑、恒速和無擾動掃描。
•  掃描裝置享受終生損壞和磨損保證。
•  擺臂已經(jīng)過平衡處理，可以任何方向操作。
•  自補(bǔ)償、單板光束分離器/補(bǔ)償器。
•  zui大掃描長度為中心前后1cm光程。
•  掃描模式：正反雙向獲得的雙面干涉圖。
•  氦氖參考激光，可用于：數(shù)字化取樣、反射鏡速度控制、掃描方向的正交檢波及光程差確定中的條紋計(jì)數(shù)。
•  加電時(shí)白光零光程差的自動定位。
•  配備翻版機(jī)構(gòu)的對角反射鏡，可切換到側(cè)口光束。

干涉儀機(jī)箱

•  干涉儀模塊，控制電子裝置、電源裝置、光源和光源機(jī)電供電裝置均安裝在一個(gè)鋁陶機(jī)殼中，機(jī)殼上下兩個(gè)半部用螺栓緊固在一起并用O型環(huán)密封。
•  儀器左側(cè)設(shè)置了可選輸出或發(fā)射端口。
•  封閉箱體為帶有狀態(tài)指示器的易換型插入式卡盒，可保持干燥。
•  用戶可通過光源檢查口來完成光源檢查口來完成光源的更換。
•  配置吹掃如口擴(kuò)散器的。
•  電源、開關(guān)、保險(xiǎn)絲、數(shù)據(jù)纜和狀態(tài)指示燈的接口設(shè)置在儀器背面右側(cè)的側(cè)壁上。

數(shù)據(jù)采集

•  單板電子模塊可提供：具備ZPD同步功能的掃描啟動邏輯，通過檢測器模塊上的"特制"切換開關(guān)來選擇2種掃描速度，雙定向德連接、內(nèi)置樣品盒支架、zui高速率為100KHZ的16位ADC，并行數(shù)據(jù)傳輸。

計(jì)算機(jī)接口

•  所有PC機(jī)必須為486、DX66或以上配置，可由ABB提供或客戶自備。

軟件

•  Win Easy軟件，基于windows的光譜數(shù)據(jù)采集、顯示和處理程序。
•  可運(yùn)行于windows95、98/2000/XP和NT下的光譜軟件。
•  可選PLS和PCR定量軟件包。
•  可選質(zhì)量控制軟件包（AIRS）。
•  可選交鑰匙工業(yè)自動化分析程序（CAAP）。
•  與Spreadsheet和word軟件兼容。

運(yùn)行環(huán)境

•  交流輸入電壓：120或240V，手動選擇。
•  功耗：150w。
•  環(huán)境溫度：不工作時(shí)為-15℃至50℃；工作時(shí)為0℃至30℃。
•  相對濕度（工作時(shí)）：FTLA2000-104、FTLA2000-154S和FTLA2000-160D型為0%至95%，無冷凝；FTLA2000-100和FTLA2000-102型為0%至40%，無冷凝。

產(chǎn)品規(guī)格若有更改，恕不另行通知。