新型X熒光貴金屬檢測(cè)儀性能優(yōu)勢(shì)

超高分辨率，世界*： 
采用世界上的SDD硅漂移探測(cè)器 ，分辨率為139±5ev ，而常規(guī)的Si-PIN探測(cè)器，分辨率為160±5eV， 能更好的檢測(cè)鉑金中銥和金的含量。

超高精確度，性能*： 
使用25mm²大面積鈹窗探測(cè)器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術(shù)，提高分析速度，總體提高系統(tǒng)處理能力，計(jì)數(shù)率zui大可達(dá)8萬(wàn)，比Si-PIN 6mm²探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。

超清晰攝像頭，精確定位： 
采用新型工業(yè)級(jí)相機(jī)，樣品圖像更加清晰，輕松實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)定位。

小準(zhǔn)直器，輕松實(shí)現(xiàn)精小部位測(cè)試： 
提供多種準(zhǔn)直器，直徑zui小達(dá)0.2mm，可輕松實(shí)現(xiàn)精小部位的精確測(cè)試，同時(shí)可根據(jù)測(cè)試需求電動(dòng)切換準(zhǔn)直器，使測(cè)量更加輕松更加準(zhǔn)確。

一鍵式智能式操作，省去選曲線煩惱： 
FP法的完整使用，只需一鍵操作即可智能化自動(dòng)匹配曲線，操作一步到位。

新型X熒光貴金屬檢測(cè)儀技術(shù)參數(shù)

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達(dá)ppm級(jí)
分析含量一般為ppm到99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.02％（含量96％以上）
*工作穩(wěn)定性為0.05％（含量96％以上）
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：139±5eV

新型X熒光貴金屬檢測(cè)儀儀器配置

移動(dòng)樣品平臺(tái)
信噪比增強(qiáng)器
SDD探測(cè)器
數(shù)字多道分析系統(tǒng)
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī) 
外觀尺寸： 550×416×333mm 
樣品腔尺寸：460×298×98mm 
質(zhì)量：45Kg

新型X熒光貴金屬檢測(cè)儀應(yīng)用領(lǐng)域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)