X熒光光譜儀性能特點

專業貴金屬檢測、鍍層厚度檢測 
內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍以上
一次可同時分析24個元素
針對不同樣品可自動切換準直器
智能貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰
任意多個可選擇的分析和識別模型 
相互獨立的基體效應校正模型 
多變量非線性回收程序

X熒光光譜儀技術指標

|天瑞貴金屬檢測儀|貴金屬檢測儀生產廠家|黃金檢測儀X熒光光譜儀|貴金屬檢測儀

元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U） 
測量對象：固體、液體、粉末 
測量精度:0.05%
分析檢出限：可達ppm
分析含量：一般為ppm－99.9％ 
多次測量重復性：0.1％ 
*工作穩定性：0.1％ 
溫度適應范圍：15℃－30℃ 
測量濕度：≤70％ 
測量時間：60－300秒 
電源：交流220V±5V(建議配置交流凈化穩壓電源)

X熒光光譜儀標準配置

單樣品腔 

準直器（8個）自動切換裝置（范圍0.1mm－0.8mm）
正比計數盒探測器。 
信號檢測電子電路。 
高低壓電源。 
X光管。 
計算機及噴墨打印機

X熒光光譜儀應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測 
金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行、首飾銷售和檢測機構；電鍍行業
尤其是黃金及黃金飾品的含量檢測