一、應(yīng)用范圍 適用于石墨、磨料、陶瓷、碳化硅、硅灰石、***剛石、***屬粉、碳粉、藥粉、涂料、水泥、硬質(zhì)合***、催化劑、云母粉、填料等各種粉末物料顆粒的形貌觀(guān)察和粒度分析。 二、性能特點(diǎn) 1.顆粒圖像分析儀，工業(yè)級(jí)攝像頭高速采集，光學(xué)顯微鏡放大成像，圖像快速顯示于電腦，直接觀(guān)察顆粒形貌，軟件進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)處理。 2. 測(cè)量范圍：0.5μm～3000μm 3. 接口方式：USB連接。 4. 平場(chǎng)消色差物鏡，大分辨率0.07微米，大光學(xué)放大倍數(shù)1600倍，打印大倍數(shù)4000倍(A4幅面)。 5. 供等面積和等周長(zhǎng)兩種基準(zhǔn)下的個(gè)數(shù)、直徑、面積、體積、圓形度等分布數(shù)據(jù)。同時(shí)提供顆粒數(shù)、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長(zhǎng)徑比等粒度分布數(shù)據(jù)，配有(30)多種圖像分析和處理功能，可以滿(mǎn)足各種圖像處理需要。 6. 對(duì)采集的圖像進(jìn)行調(diào)整高度、寬度、亮度、對(duì)比度、濾波、填充等，提高分析分辨率，網(wǎng)格標(biāo)注顆粒尺寸等功能，使測(cè)試結(jié)果更真實(shí)可靠。 7. 儀器分二種型號(hào)，技術(shù)原理、參數(shù)都相同，A型顆粒圖像分析儀配置透射顯微鏡，B型顆粒圖像分析儀配置透反射顯微鏡，后者還可用于陶瓷、***屬等各種不透光物體表面晶形的觀(guān)察分析。 8. 顆粒形貌圖像可存盤(pán)和打印，還可輸出多種格式的測(cè)試報(bào)告。另可根據(jù)行業(yè)特殊要求，設(shè)計(jì)磨料、硅灰石等軟件。 三、 圖像分析處理功能 1. 色調(diào)處理：負(fù)像、灰度化、色調(diào)調(diào)整、亮度、對(duì)比度調(diào)整； 2. 圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像、90度（逆時(shí)針)、90度(順時(shí)針) 、旋轉(zhuǎn)、放大、縮小任意比例縮放等； 3. 測(cè)量單位：微米、毫米、厘米、英吋任選； 4. 圖像增強(qiáng)：對(duì)比度均衡、膨脹、腐蝕等； 5. 圖像處理：圖像銳化，邊緣平滑，二值化，邊界濾波，分析目標(biāo)擦除、孔洞填充，手工擦除，手工連接，粒子屬性查看、設(shè)置標(biāo)尺、網(wǎng)格等功能； 6. 分析參數(shù)： （1）幾何參數(shù)：每個(gè)顆粒的質(zhì)心 X、Y 坐標(biāo)位置，像素； （2）當(dāng)量幾何參數(shù)：等面積圓直徑，等周長(zhǎng)圓直徑，長(zhǎng)徑，短徑，長(zhǎng)徑比； （3）外接幾何參數(shù)：每個(gè)顆粒的外接圓直徑； （4）光密度參數(shù)：圖像 R、G、B、灰度分布； （5）形態(tài)學(xué)參數(shù)：長(zhǎng)徑比，圓度系數(shù)；