【Axioskop 40 Pol】蔡司偏光顯微鏡

       -- 卡爾蔡司研究級偏光顯微鏡

應用領域

地質學，礦物學，結晶學，磁性材料，陶瓷/玻璃，高分子材料，紡織學，法醫鑒定等行業的偏光研究及日常實驗室應用。

一、產品描述：

Axioskop 40 Pol的技術特點

1. 線形或環形，兩種類型的偏光

線偏光只能從一個特定方向看到樣品結構，而環偏光可以在不轉動載物臺的情況下，看到各個方向的圖象，有利于對巖石薄層進行彩色照相，而且有利于通過圖象分析檢測塑料結構或玻璃的應力。

2 .C-DIC：高反差的*技術

Axioskop 40 Pol的*技術：C-DIC ，適用于EC Epiplan-Neofluars物鏡；使用方便，可以通過簡單地調節旋鈕來獲得固定圖像片段的*反差。

3. 無接觸測量：新型反射光干涉儀TIC

環行雙光束干涉儀能夠測量物體的表面構造和粗糙度，測量范圍50到5000納米，適用于各種倍率的物鏡。

4. 磁性材料模塊

磁性材料在新型材料和數據存儲設備中有著日益增長的重要性，在顯微鏡觀察中，通過克爾效應成像，*次在蔡司顯微鏡上得以實現。

二、技術參數：

1、物鏡倍數：5X 10X 20X 40X 50X 63X 100X 可選1.25X 2.5X 150X

2、目鏡倍數：10X/23mm

3、物鏡轉盤：6孔

4、觀察功能： 透射光: 偏光、正交偏光、錐光、明場、暗場、相襯、DIC

                     反射光：偏光、明場、暗場、DIC、C-DIC、熒光

5、可擴展性：可配圖像分析系統（數碼相機、攝像頭、圖像分析軟件）

6、可配冷熱臺

7、可配顯微分光光度計

廠家:德國蔡司（Zeiss Jena）光學

顯微鏡價格:請 Carl Zeiss 中國 廣東 深圳 顯微鏡銷售代理

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