LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀

產(chǎn)品描述：
 LEPTOSKOP2042涂層測厚儀具有精準的測量技術(shù)和簡單的操作方法，是*的涂層測厚儀。通過解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場迅速的升級。
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀 利用磁感應法（DIN EN ISO 2178）測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚。
儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀是一種經(jīng)濟的產(chǎn)品，電池壽命長，可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
特點概述：
◆ 大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
◆ 校準選項
◆ 出廠時已校準，立即可用
◆ 在未知涂層上校準*
◆ 零校準*
◆ 在無涂層的基體上一點和多點校準*
◆ 在有涂層的基體上校準*
◆ 校準數(shù)據(jù)可以別單獨存儲在獨立的校準檔案中，也可以隨時調(diào)出
◆ 可選擇的顯示模式，以*形式去完成測量任務*
◆ 輸入和極限監(jiān)視*
◆ 在Windows下有簡單的存儲讀數(shù)檔案管理*
◆ 可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
◆ 統(tǒng)計*
◆ 可統(tǒng)計評估999個讀數(shù)
◆ zui小值、zui大值、測量個數(shù)、標準偏差和極限監(jiān)視
◆ 局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）
◆ 在線統(tǒng)計，所有統(tǒng)計值概括
3種配置級別以更好的完成測量任務
      基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征
      高級型 - 附加統(tǒng)計評估
      專業(yè)型 - 統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲
如果針對新的測量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時候把儀器升級為高級型和/或?qū)I(yè)型。升級只需在現(xiàn)場輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計”和/或“統(tǒng)計& 數(shù)據(jù)存儲”，便可完成；而不需要把儀器反廠或重新購買新機器。
多樣的探頭
多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測量復雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm也是可以的。根據(jù)需求，我們也可以訂做特殊探頭。