冷熱沖擊測試箱價格
參考價 | ¥ 100000 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 廣東科文試驗設(shè)備有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 中國東莞
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2023/6/29 12:27:35
- 訪問次數(shù) 854
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高低溫老化箱,溫濕度循環(huán)試驗箱,高低溫循環(huán)測試箱,小型高低溫試驗箱,小型恒溫恒濕試驗箱,小型冷熱沖擊試驗箱,高低溫濕熱試驗箱,冷熱沖擊測試箱,恒溫恒濕箱,紫外光老化試驗箱
簡介:冷熱沖擊測試箱廣泛適用于電工、電子產(chǎn)品、金屬、LED照明、LED液晶屏、LED燈具、LED背光源、光纖、塑膠、LCD、PCB電路板、線路板、兵工業(yè)、自動化零組件、電子芯片、IC、元器件、航空航天、科研院校及其他軍用設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗,在模擬高溫、低溫時溫度瞬間變化的氣候條件下的適應(yīng)性試驗。
溫度范圍:
溫度:-40℃~+180℃、 -55℃~+180℃、-65℃~+180℃
高溫室預熱溫度范圍:預熱上限+200℃
低溫室預熱溫度范圍:預冷下限-75℃
低溫室沖擊溫度范圍:RT-20℃~-65℃(不同溫度沖擊范圍可帶負載重量不同)
高溫室沖擊溫度范圍:RT+20℃~+180℃(不同溫度沖擊范圍可帶負載重量不同)
溫度轉(zhuǎn)換時間:≤15S
溫度恢復時間:≤5min
溫度波動度:≤±0.5℃
溫度均勻度:≤2℃
溫度偏差:≤±2℃
高溫室預熱時間:RT~+200℃≤30min
低溫室預熱時間:RT~-75℃≤45min
電源:AC380±10% 50/60HZ
(沖擊試驗箱原理圖)
型號/內(nèi)外箱尺寸:
型 號: 內(nèi)箱尺寸(深×寬×高) 外形尺寸(深×寬×高)mm 功率
KW-TS-50 350×400×350 1440×1560×1750 21.0KW
KW-TS-80 500×400×400 1440×1800×1440 22.0KW
KW-TS-100 500×600×810 1440×1800×1800 23.0KW
KW-TS-150 600×800×850 1540×1800×1900 25.0KW
KW-TS-250 700×800×900 1640×1900×2000 35.0KW
KW-TS-480 800×1000×1000 2150×2020×2250 50.0KW
冷熱沖擊測試箱箱體材質(zhì):
內(nèi)膽材料:進口SUS304鏡面不銹鋼板
外膽材料:進口SUS304拉絲不銹鋼板或冷軋鋼板烤漆
保溫材料:玻璃纖維棉/硬質(zhì)聚氨酯發(fā)泡
加熱器:鎳鉻合金電加熱器
風機:離心風機
冷卻器:翅片式冷卻器
氣動氣缸:高溫,恒溫,低溫暴露時各個風動驅(qū)動所用
冷熱沖擊測試箱特點:
◆本系列產(chǎn)品內(nèi)膽材料采用SUS304進口鏡面不銹鋼制成,外殼釆用冷軋鋼板表面噴塑制成,
造型新穎,美觀大方
◆進口制冷機組,電控配件均*,從而達到設(shè)備的整體質(zhì)量得到保證及壽命
◆采用制冷控制摸式,可作到0℅~100℅自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率,無須釆用加熱平衡控溫,實現(xiàn)低能耗運行
◆規(guī)格系列齊全,可提供提籃式?jīng)_擊模式和三箱風門切換沖擊模式
◆可提供標準高低溫試驗功能
◆可根據(jù)用戶要求定制尺寸和性能標準
◆系統(tǒng)操作簡單,安裝.培訓.維護方便
制冷系統(tǒng):
◆制冷機組:制冷系統(tǒng)及壓縮機:為了保證試驗箱降溫速率和zui低溫度的要求,本試驗箱選用德國“谷輪”或“比澤爾”半封閉式二元復疊式制冷系統(tǒng)壓縮機所組成的二元復疊式制冷系統(tǒng)。
◆制冷方式:機械壓縮機二元復疊制冷式
◆制冷劑:采用美國DUPONT公司產(chǎn)R404A(低壓循環(huán))、R23(高壓循環(huán))環(huán)保制冷劑。
◆冷凝器:不銹鋼釬焊板式換熱器
◆制冷配件:均采用品牌*配件。
◆冷卻方式:風冷或水冷
◆溫度切換動力源:氣動元件驅(qū)動
◆運行方式:程序溫度沖擊運行或高低溫定值運行
◆控制系統(tǒng):采用公司自主研發(fā)的KW-901型可程式微電腦溫度控制器:7英寸中英文真彩觸摸屏式人機界面(畫面對談式)電腦控制,USB曲線記錄,數(shù)據(jù)儲存裝置,提供USB通訊接口可備份/歷史曲線/歷史數(shù)據(jù),使用便捷;還可選配RS485接口,RS232通信接口,可通過PC隨意控制和監(jiān)視。具有程序修正、清除、預約、啟動、停電、記憶、按鍵鎖定等功能。
冷熱沖擊測試箱設(shè)計標準:
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗
GB/5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備參數(shù)檢定方法 (溫度試驗設(shè)備)
GJB150.5-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法(溫度沖擊試驗)
GJB360.7-87軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法(溫度沖擊試驗方法)
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式
滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則
1GB/T 2423.22-2002溫度變化
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