HD-2700球差校正掃描透射電子顯微鏡
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 日立科學儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2017/7/20 14:23:05
- 訪問次數 2651
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HD-2700球差校正掃描透射電子顯微鏡 特點 |
高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像
- HAADF-STEM圖像0.136nm,FFT圖像0.105nm(高分辨率鏡頭(*))
- HAADF-STEM圖像0.144nm(標準鏡頭)
- 明場掃描透射電子顯微鏡圖像0.204nm(w/o球差校正儀)
高速,高靈敏度能譜分析:探針電流×10倍
- 元素面分布更迅速及時
- 低濃度元素檢測
HD-2700球差校正掃描透射電子顯微鏡 操作簡化
- 自動圖像對中功能
從樣品制備到觀察分析實現無縫連接
- 樣品桿與日立聚焦離子束系統兼容
配有各種選購件可執行各種評估和分析操作
- 同時獲取和顯示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布(*) 和DF/EELS面分布(*)圖像。
- 低劑量功能(*)(使樣品的損傷和污染程度降至zui低)
- 高精度放大校準和測量(*)
- 實時衍射單元(*)(同時觀察暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像和衍射圖案)
- 采用三維微型柱旋轉樣品桿(360度旋轉)(*),具有自動傾斜圖像獲取功能。
- ELV-3000即時元素面分布系統(*)(同時獲取暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像)
(*) 選購件
技術指標
HD-2700球差校正掃描式透射電子顯微鏡
項目 | 描述 | |
圖像分辨率 | w/o球差校正儀 | 保證 0.204nm(當放大倍數為4,000,000時) |
w球差校正儀 | 保證 0.144 nm(當放大倍數為7,000,000時)(標準鏡頭) | |
保證 0.136nm(HAADF圖像) 保證0.105 nm(通過FFT)(當放大倍數為7,000,000時)(高分辨率鏡頭(*)) | ||
放大倍數 | 100倍 至 10,000,000倍 | |
加速電壓 | 200 kV, 120 kV (*) | |
成像信號 | 明場掃描透射電子顯微鏡:相襯圖像(TE圖像) 暗場掃描透射電子顯微鏡:原子序數襯度圖像(Z襯度圖像) 二次電子圖像(SE圖像) 電子衍射(*) 特征X射線分析和面分布(能譜分析)(*) 電子能量損失譜分析和面分布(EV3000)(*) | |
電子光學系統 | 電子源 | 肖特基發射電子源 |
冷場致發射器(*) | ||
照明透鏡系統 | 2-段聚光鏡鏡頭 | |
球差校正儀(*) | 六極鏡頭設計 | |
掃描線圈 | 2-段式電磁感應線圈 | |
原子序數襯度收集角控制 | 投影鏡設計 | |
電磁圖像位移 | ±1 μm | |
試片鏡臺 | 樣品移動 | X/Y軸 = ±1 mm, Z軸 = ±0.4 mm |
樣品傾斜 | 單軸-傾斜樣品桿:±30°(標準鏡頭), ±18°(高分辨率鏡頭(*)) | |
真空系統 | 3個離子泵,1個TMP | |
極限真空 | 10-8 Pa(電子槍), 10-5 Pa(樣品室) | |
圖像顯示 | 個人電腦/操作系統 | PC/AT兼容, Windows® XP |
監視器 | 19-inch液晶顯示器面板 | |
圖像幀尺寸 | 640 × 480, 1,280 × 960, 2,560 × 1,920 象素 | |
掃描速度 | 快掃,慢掃(0.5至320秒/幀) | |
自動數據顯示 | 記錄序號,加速電壓,下標尺,日期,時間 |