Surfix F鐵基統計型膜厚儀|PHYNIX膜厚儀
Surfix F外置探頭鐵基統計型測厚儀|膜厚儀|膜厚計
特點:1.德國菲尼克斯公司制造
2.碳化鎢超耐磨測頭,特快反應速度
3.同屏顯示統計數據
4.可存儲前200測值
5.可測鐵基體上涂鍍層
6.基體上涂層,量程1500μm
7.精度±1μm+1%讀數.分辨率0.1μm,讀數背景光
8.有紅外可接PC及打印機
技術參數: |
測量范圍 | 0-1500µm,0 - 60mils |
誤差 | ±(1µm+1%讀數) |
分辨率 | 0.1µm或小于讀數的2% |
顯示 | 背光,字母加數字,10mm高,4位數字顯示 |
基體zui小面積 | 5mmX5mm |
基體zui小曲率 | 凸面:1.5mm 凹面:5mm |
基體zui小厚度 | F型:0.2mm ,N型: 50µm |
校準 | 廠家校準,零校準,校準箔校準 |
數據統計(*統計型) | 讀數個數(zui多9999個),平均值,標準偏差,zui大值和zui小值 |
數據存儲(*統計型) | zui多200個測量數值,可單獨調出 |
數據值(*統計型) | 上下限可調,聲音報警 |
數據接口 | 紅外通訊,IrDA標準 |
環境溫度/表面溫度 | 0-50℃/60℃ (可選配150℃) |
電源 | 兩節1.5伏五號堿性電池 |
儀器尺寸 | 137x66x23mm |
符合標準 | DIN,ISO,ASTM,BS |