XH-AP150半自動探針臺技術標準
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 天津羲和陽光科技發展有限公司
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2016/6/11 3:20:40
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產品標簽
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半自動探針臺與測試儀配接后,能自動完成對芯片的電參數測試。
技術性能:
1. 采用高性能計算機,Windows操作系統,動態顯示測試過程;
2. TTL接口,IEEE488接口;
3. MAP圖顯示、支持大量數據存儲;
4. 具有同步打點、延時打點、離線打點功能;
5. 具有編輯、矩陣、環形、圓形等多種自動測試方式;
6. 適合對光敏感器件的遮光測試。
技術指標:
性能名稱 | 技術指標 | |
可測片徑 | 4″、5″、6″ | |
工作臺 | zui大行程 | 180mm×260mm |
定位精度 | ≤±0.015mm | |
步進分辨率 | 0.001mm | |
承片臺 | Z向行程 | 8mm |
Z向定位精度 | ≤±0.005mm | |
Z向分辨率 | 0.001mm | |
θ向調節范圍 | ±10 º | |
θ向分辨率 | 0.001 º | |
觀察裝置 | 雙目體視顯微鏡,放大倍數7.5X~45X | |
遮光罩裝置(適合對光敏感器件的遮光測試) | (選配) | |
上、下圓片方式 | 手動方式 | |
外形尺寸(寬×深×高) | 750mm×700mm×1500mm |
環境要求:
1. 電源:AC 220V±22V 50Hz±1Hz,功率:<0.8KW,真空:< -80 KPa
2. 使用環境:溫度:10ºC-30ºC 濕度:<60%
設備外形: