NanoTA2是第二代納米熱分析儀。它增加了強大的DSP控制器使得大多數市售AFM能夠執行100nm以下的局部熱分析。此分辨率是以前報道的100倍，這主要得益于我們*的熱探針技術。nanoTA2具有以下優勢：

l  能夠以低于30nm的空間分辨率對試樣成像分析（接觸或間歇接觸模式）。幫助你研究你感興趣區域的熱性能。

l  可以用探針將直徑小于100nm的區域加熱到400℃，以便研究玻璃化轉變溫度或熔點等熱學性能。

l  局部加熱速率可達600,000℃/min，從而消除熱漂移問題，防止試樣受熱處理影響。

l  采用熱*成像以減少局部加熱對表面特定區域的影響

l  能夠以小于0.1℃的分辨率對整個試樣的溫度進行掃描成像。

nano-TA/HT-AFM 技術參數：
檢測模式：單/雙探針（SW可供選擇）
Ramp模式：電壓，功率（單），電阻（單），delta power（雙）
成像模式：接觸模式，間斷接觸模式（由SPM控制）
升溫速率：zui高可達600,000°C / min
探針的zui高可控溫度：400℃（由探針控制）
探針彈簧系數：0.1N/m~5N/m
探針共振頻率：20~80kHz
針頂圓角半徑：10~30nm
針頂高度：3~6μm
懸臂長度：200~350μm