IIW(V-1)/IIWII 荷蘭試塊IIW(V-1)/IIWII(V-2)
- 公司名稱 南京拓普思瑞電子科技有限公司
- 品牌
- 型號 IIW(V-1)/IIWII
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2016/5/1 2:29:05
- 訪問次數 6671
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荷蘭試塊IIW(V-1)/IIWII(V-2)
超聲波檢測試塊報告
名稱 | 標準試塊 | 型號規格 | IIW-V1 | 執行標準 | ISO2400- 1972E | |
材質 | 20號鋼 | 毛坯種類 | 鍛打件 | 熱處理狀態 | 正火處理 | |
序號 | 檢驗項目 | 檢驗要求 | 實測情況 | |||
1 | 本體材料化學成分 | 主要化學成分應符合GB699(優質碳素結構鋼鋼號和一般技術條件)抽檢 | 合格 | |||
2 | 本體材料晶粒度 | 本體材料經正火處理后,晶粒度應達到7級以上(抽檢) | 合格 | |||
3 | 本體材料內部缺陷 | 使用5MHZ直探頭,對試塊進行接觸法超聲波探傷,不得出現大于對比試塊DB-PZ2-2平底孔回波幅度1/4的缺陷回波。 | 合格 | |||
4 | 折射角刻度偏差 | 使用2.5MHZ、折射角為45度的斜探頭檢測時,不得超出+-2度 | 合格 | |||
5 | 有機玻璃鑲嵌縱波傳播時間 | 常溫下,有機玻璃23mm厚度縱波傳播時間相當于20(45)號鋼50mm厚度的縱波 | 合格 | |||
6 | R100圓弧面中心位置偏差 | 使用2.5MHZT 5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出+-1.5dB | 合格 | |||
7 | R100圓弧面回波幅度偏差 | 使用2.5MHZ和5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出+-1.5dB | 合格 | |||
8 | 外觀及表面粗糙度 | 外觀光滑無明顯劃傷、碰傷、銹蝕等缺陷,鳥面粗糙度談側面不得低于Ra3.2,其余Ra6.3 | 合格 | |||
9 | 幾何尺寸、形位公差 | 尺寸、公差+-0.1 | 合格 | |||
備注:本產品由上海越磁電子科技有限公司現貨供應,產品需含檢測報告。
標準試塊 IS02400-1972E
IIW試塊(V-1試塊)也叫荷蘭試塊。是由焊接學會(IIW)通過,標準化組織(ISO)*使用的標準試塊。材質:不銹鋼、鋁合金
使用要點:
1、 利用試塊厚25mm可測定探傷儀的動態范圍、水平線性及調整縱波探測范圍
2、 利用Φ50和圓弧和Φ1.5通孔測定斜探頭折射角及縱波直探頭的靈敏度余量;還可粗略估計直探頭的盲區大小及測定儀器與探頭組合后的穿透能力
3、 利用R100mm圓弧面測定斜探頭的入射點和盲區,并可校正時間軸比例和零點。
4、 利用測距為85mm、91mm和100mm三個槽口平面可測定直探頭的縱向分辨力
5、 利用試塊的直角棱邊測定斜探頭聲束偏斜角