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全自動X射線熒光鍍層測厚儀X-Strata920 介紹

鍍層測厚儀X-Strata920：是牛津儀器發布的新一代鍍層測厚儀；是CMI900的升級換代產品；在CMI900基礎上，改進了系統安全部件、系統軟件進行了更新、測量結果進行多樣化的輸出；是X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀；具有非破壞、非接觸、無損測量；一鍵定焦，有效避免人為操作誤差；快速簡潔，僅需10秒即可得出測量結果。適用于大多數行業，是質量控制、節約成本的*檢測工具。擁有著多種稱謂：金鎳測厚儀、LED測厚儀、金銀測厚儀、X射線測厚儀、X-Ray測厚儀、臺式測厚儀、鍍層測試儀、支架測厚儀……

應用行業：

PCB、FPC、LED、連接器、端子、電阻和電容等電子元件、螺栓和彈簧等五金產品、衛浴潔具、汽車零部件、功能性電鍍件、裝飾件、首飾飾品等多個行業、檢測機構和科研院校。

工作原理：

對被測樣品發射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線能量后被激發并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線，通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，鍍層測厚儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。

儀器特點：

• 可測元素：鈦Ti²²---鈾U⁹²間各元素；
• 可測鍍層：5層鍍層（含基材層），15種元素共存校正；
• 測量時間約10秒，快速得出測量結果；
• 測量結果精確到微英寸；
• 測量結果報告可包含：數據、被測樣品點圖片、各種統計報表、客戶信息；
• 提供貴重金屬分析和金純度檢查（即Au karat評價）；
• 提供NIST認證的標準片；
• 享有的服務與支持。

測厚范圍：

• 取決于具體的應用。

測量精度：

• 膜厚≤20µin（0.5um）時，測量誤差值為：*層±1µin，第二層±2µin，第二層±3µin
• 膜厚＞20µin（0.5um）時，測量誤差值為：*層±5%，第二層±10%，第二層±15%

技術參數

X射線激發系統：

• 50W（50KV，1.0mA）微聚焦型鎢靶X射線管；
• 垂直下照式X射線光學系統

準直器系統：

• 可選：單準直器組件、多準直器組件，
• 多準直器組件：可同時裝配6種規格的準直器，
• 準直器的形狀：圓形、正方形、矩形，
• 準直器規格尺寸：
• 圓形準直器：Φ0.1、0.15、0.2、0.3、0.33mm等，
• 矩形準直器：0.025x0.05、0.05x0.05、0.013x0.254、0.254x0.254、0.051x0.254mm等

樣品室：

• 采用開槽式樣品室，
• Z軸自動控制，移動行程：43mm，
• XY軸自動控制，樣品臺移動行程：178×178mm，
• zui大樣品高度33mm，
• 樣品臺尺寸（寬×深）：610×560mm，
• 儀器外形尺寸（寬×深×高）：610×1037×375mm，
• 可提供對樣品的自動和編程控制，多點測量，
• 鼠標控制樣品臺移動，精確地定位樣品測量點，
• 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、重復測量模式，
• 激光對焦和自動對焦功能

鐳射聚焦系統：

• 用于自動精確定位X射線光管/探測器與樣品到*測試距離，
• 單擊鼠標，Z軸自動掃描，
• Z軸自動聚焦到焦距12.7mm，同時將樣品圖像定焦（顯示在屏幕上），
• 一鍵定焦，操作簡單，避免了人為操作誤差

樣品觀察系統：

• 高分辨率彩色CCD觀察系統，標準光學放大倍數為30倍，
• 50倍和100倍觀察系統任選，

結果輸出:

• 測量結果可直接打印、導出到PDF文件、Excel文件，
• 測量結果可包含：數據、圖像、統計圖表、logo和客戶信息、可用系統預置模板或自制模板，
• 統計圖表包含：平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖、數據分組、X-bar/R圖表、直方圖

計算機系統配置:

• IBM計算機
• 佳能彩色噴墨打印機

分析應用軟件:

• 操作系統：Windows XP中文平臺，
• 分析軟件包：SmartLink FP軟件包，

系統的安全部件配置:

• Z軸保護傳感器
• 安全防射線光閘
• 樣品室門開閉傳感器
• X射線鎖
• X射線警示燈
• 急停開關
• 前、后面板安全鎖
• 多用戶密碼保護，設定日常操作員有限的*，主管人員可進行系統維護
• 系統自動生成操作員的使用記錄
• “自動鎖定”功能：測量結束后，超過預設時*，軟件鎖定并要求輸入密碼

售后服務：

鍍層測厚儀X-Strata920享有自購買之日計起為期12月的保固期，享有服務和