《石墨烯薄膜的性能測(cè)試方法》意見(jiàn)征求
【化工儀器網(wǎng) 政策標(biāo)準(zhǔn)】石墨烯是近年來(lái)熱的新材料之一，具有高載流子遷移率以及光透過(guò)率，其作為透明導(dǎo)電膜材料在電子、光子及光電設(shè)備領(lǐng)域的應(yīng)用范圍十分廣泛。目前，國(guó)內(nèi)企業(yè)已經(jīng)批量生產(chǎn)了石墨烯薄膜基觸摸屏等終端產(chǎn)品，故而制定石墨烯薄膜性能(如透光性、導(dǎo)電性)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于指導(dǎo)和規(guī)范石墨烯薄膜行業(yè)的快速發(fā)展及其在光電等領(lǐng)域的應(yīng)用具有極其重要的意義。
2017年，國(guó)家納米科學(xué)中心就成立了標(biāo)準(zhǔn)編制組，確定了標(biāo)準(zhǔn)的編制分工及制定項(xiàng)目計(jì)劃表。在中國(guó)科學(xué)院的主管下，起草組進(jìn)行了大量的文獻(xiàn)調(diào)研，起草了《石墨烯薄膜的性能測(cè)試方法》，目前，該標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)編制完成，正面向社會(huì)征求意見(jiàn)。
因標(biāo)準(zhǔn)是第一次起草，故而為確保其嚴(yán)謹(jǐn)性、科學(xué)性和適用性，起草組在遵照GB/T 1.1-2009《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則 第1部分 標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫(xiě)》的有關(guān)規(guī)定的基礎(chǔ)上，引用了GB/T 26074-2008《鍺單晶電阻率直流四探針測(cè)量方法》、GB/T 2410-2008《透明塑料透光率和霧度的測(cè)定》等標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)。
標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容包括有范圍、規(guī)范性引用文件、術(shù)語(yǔ)和定義、原理、設(shè)備與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、試樣準(zhǔn)備和測(cè)試點(diǎn)選擇、測(cè)試步驟、結(jié)果計(jì)算、測(cè)試精度、檢測(cè)報(bào)告等，規(guī)定了在常溫常壓大氣環(huán)境下使用直排四探針?lè)y(cè)量石墨烯薄膜方塊電阻的方法、原子力顯微術(shù)測(cè)定石墨烯薄膜厚度的方法、吸收光譜法測(cè)量石墨烯薄膜試樣透光性的方法以及石墨烯薄膜的霧度測(cè)試方法。
閱讀《石墨烯薄膜的性能測(cè)試方法》征求意見(jiàn)稿后可知，四探針測(cè)量薄膜電阻率的方法是等間距直線(xiàn)排列的四探針垂直壓在橫向尺寸無(wú)窮大的薄膜試樣表面；測(cè)量厚度的方法是在平整的基底上，使用原子力顯微鏡掃描石墨烯薄膜測(cè)量表面形貌，而薄膜邊緣處，則是用原子力顯微鏡掃描薄膜與基底之間的臺(tái)階獲得臺(tái)階的；透光率測(cè)試方法是使用紫外-可見(jiàn)-近紅外分光光度計(jì)對(duì)石墨烯薄膜試樣進(jìn)行測(cè)試，得到各個(gè)波長(zhǎng)點(diǎn)的透光率數(shù)據(jù)。
本標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)施能為石墨烯薄膜產(chǎn)品更廣泛的生產(chǎn)、銷(xiāo)售、檢驗(yàn)提供重要依據(jù)，相信隨著石墨烯薄膜材料的進(jìn)一步普及和推廣，也將促進(jìn)石墨烯行業(yè)產(chǎn)生良好的經(jīng)濟(jì)效益和社會(huì)效益。
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