太赫茲空間輻射頻率測(cè)量儀器校準(zhǔn)規(guī)范意見征集
【化工儀器網(wǎng) 政策標(biāo)準(zhǔn)】近日，根據(jù)國家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局下達(dá)的國家計(jì)量技術(shù)法規(guī)制修訂計(jì)劃，由中國計(jì)量科學(xué)研究院負(fù)責(zé)起草的《太赫茲空間輻射頻率測(cè)量儀器》校準(zhǔn)規(guī)范征求意見稿已經(jīng)修訂完成，為了進(jìn)一步完善該項(xiàng)新規(guī)范，提高其適用性，全國光學(xué)計(jì)量技術(shù)委員會(huì)現(xiàn)面向全社會(huì)公開征求意見，還望專家學(xué)者在百忙之中抽空對(duì)上述計(jì)量技術(shù)規(guī)范提出寶貴意見，并將修改意見反饋至全國光學(xué)計(jì)量技術(shù)委員會(huì)秘書處或?qū)?yīng)規(guī)范起草單位。
《太赫茲空間輻射頻率測(cè)量儀器校準(zhǔn)規(guī)范》主要內(nèi)容包括范圍、概述、計(jì)量特性、校準(zhǔn)條件、校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法、校準(zhǔn)結(jié)果、復(fù)校時(shí)間，適用于頻率在 0.1 THz～10 THz(對(duì)應(yīng)的波長范圍：30 μm～3 mm，對(duì)應(yīng)的波數(shù)：3.3 cm-1～333 cm-1)范圍內(nèi)太赫茲空間輻射頻率測(cè)量儀器的校準(zhǔn)。
據(jù)了解，太赫茲空間輻射頻率測(cè)量儀器(簡稱太赫茲頻率計(jì)或太赫茲波長計(jì))是用于測(cè)量太赫茲頻率或波長的儀器，按測(cè)量原理可分為法布里-珀羅干涉式、邁克爾遜干涉式、外差混頻式等幾種類型。其中，法布里-珀羅干涉式和邁克爾遜干涉式太赫茲頻率測(cè)量儀器的結(jié)構(gòu)示意圖分別如1和圖2所示：
在校準(zhǔn)過程中，規(guī)范明確提出了一些必要的校準(zhǔn)條件，包括環(huán)境條件、計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器和主要其他設(shè)備兩個(gè)方面。其中，校準(zhǔn)的環(huán)境條件需要滿足環(huán)境溫度：(23±5)℃；相對(duì)濕度：≤80%；其他要求：校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)無影響測(cè)量數(shù)據(jù)的振動(dòng)、電磁干擾和背景輻射。計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器的要求包括頻率范圍：0.1 THz～10THz；頻率穩(wěn)定度：≤0.1%；頻率線寬：≤100 MHz；輻射功率：≥50 μW；具備單頻點(diǎn)輸出功能，如常用校準(zhǔn)頻率點(diǎn)為：0.10 THz、0.30 THz、0.76THz、2.52 THz等。校準(zhǔn)用的其他設(shè)備有太赫茲光束準(zhǔn)直器和太赫茲功率衰減器。
儀器的校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法包括校準(zhǔn)項(xiàng)目、校準(zhǔn)前準(zhǔn)備、校準(zhǔn)方法這三個(gè)方面的內(nèi)容。其中，規(guī)范要求，在校準(zhǔn)前應(yīng)先對(duì)儀器外觀進(jìn)行檢查，目測(cè)是否有影響計(jì)量性能的碰傷、劃痕以及影響測(cè)量的其他缺陷。必要時(shí)按照儀器使用說明書的規(guī)定執(zhí)行儀器的啟動(dòng)和準(zhǔn)備程序。儀器的校準(zhǔn)方法包括太赫茲標(biāo)準(zhǔn)頻率源法和太赫茲標(biāo)準(zhǔn)頻率計(jì)法，相應(yīng)的校準(zhǔn)裝置示意圖分別如圖3、圖4所示：
另外，關(guān)于儀器的復(fù)校時(shí)間間隔，規(guī)范指出，由于復(fù)校時(shí)間間隔的長短是由儀器的使用情況、使用者、儀器本身質(zhì)量等諸多因素所決定的，因此送校單位可根據(jù)實(shí)際使用情況自主決定復(fù)校時(shí)間間隔。建議復(fù)校時(shí)間間隔不超過1年。更換重要部件、維修、重新安裝或?qū)x器性能有懷疑時(shí)，應(yīng)隨時(shí)送校。
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