一．偏光顯微鏡的特點
    偏光顯微鏡是鑒定物質細微結構光學性質的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質，在偏光顯微鏡下就能分辨清楚，當然這些物質也可用染色發來進行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡。偏光顯微鏡的特點，就是將普通光改變為偏光進行鏡檢的方法，以鑒別某一物質是單折射（各向同行）或雙折射性（各向異性）。雙折射性是晶體的基本特性。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物，化學等領域。在生物學和植物學也有應用。

二．偏光顯微鏡的基本原理

偏光顯微鏡的原理比較復雜，在此不作過多介紹,偏光顯微鏡必須具備以下附件（a）起偏鏡 （b）檢偏鏡 （c）無應力物鏡 （d）旋轉載物臺。

三． 偏光鏡檢術的方式

（一） 正相鏡檢（Orthscope）：又稱無畸變鏡檢，其特點是使用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡（Bertrand Lens）,同時為使照明孔徑變小，推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性。

（二） 錐光鏡檢（Conoscope）：又稱干涉鏡檢，這種方法用于觀察物體的單軸或雙軸性。

四． 偏光顯微鏡在裝置上的要求

（一） 光源：采用單色光，因為光的速度，折射率，和干涉現像因波長的不同而有差異。一般鏡檢可使用普通光。

（二） 目鏡：要帶有十字線的目鏡。

（三） 聚光鏡：為了取得平行偏光，應使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。

（四） 伯特蘭透鏡：這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。

五． 偏光顯微鏡檢術的要求

（一） 載物臺的中心與光軸同軸。

（二） 起偏鏡和檢偏鏡應處于正交位置。
（三） 制片不宜過薄。