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簡要描述：快速自動掃描系統(tǒng)MDPinline ingot系統(tǒng)是可用于多晶硅電氣特性的快的測量工具。它被設(shè)計用于高產(chǎn)量生制造工廠的研究用途。每塊磚都可以在不到兩分鐘的時間里同時測量兩邊的所有形貌。測量參數(shù)具有1mm分辨率的壽命和導電型等效圖以及電阻率線掃描。

快速自動掃描系統(tǒng)

MDPinline ingot用于多晶表面形貌電氣特性的系統(tǒng)，適用于高生產(chǎn)率的制造環(huán)境。總測量時間少于兩分鐘，分辨率為1毫米，且兩面同時進行。

MDPinline ingot系統(tǒng)是可用于多晶硅電氣特性的快的測量工具。它被設(shè)計用于高產(chǎn)量生制造工廠的研究用途。每塊磚都可以在不到兩分鐘的時間里同時測量兩邊的所有形貌。測量參數(shù)具有1mm分辨率的壽命和導電型等效圖以及電阻率線掃描。

該系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)庫和統(tǒng)計數(shù)據(jù)評估，可用于提高良率準確切割位置的自動確定、材料質(zhì)量監(jiān)測以及爐子選擇和工藝改進。

優(yōu)勢

測量速度，用于的光伏工廠的在線多晶硅表征。用1毫米分辨率測量少子在兩塊上的壽命。同時測量了導電類型變化的空間分辨測量和電阻率線掃描。
客戶定義的切割標準可以傳送到工廠數(shù)據(jù)庫，該數(shù)據(jù)庫允許為下一代光伏工廠進行全自動材料監(jiān)測。從而實現(xiàn)了材料質(zhì)量控制，監(jiān)測爐的性能，以及失效分析。
特殊的“表面以下"測量技術(shù)大大減少了由表面復合造成的數(shù)據(jù)失真。

Inline measurement of silicon film thickness

VIS inline sensor head and ultrasonic sensor

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