目錄:上海首立實(shí)業(yè)有限公司>>顯微測(cè)厚儀>> X-Strata920日立鍍層測(cè)厚儀
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更新時(shí)間:2024-03-20 17:39:28瀏覽次數(shù):1772評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,建材,電子,航天,汽車 |
日立鍍層測(cè)厚儀
X-Strata920 是一款簡(jiǎn)潔、堅(jiān)固和可靠的質(zhì)量控制 XRF 臺(tái)式熒光系統(tǒng),用于簡(jiǎn)便、快速的鍍層厚度測(cè)試和材料分析。X-Strata920 可應(yīng)用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測(cè)定(如珠寶鑒定)等行業(yè),完成單層或多層厚度測(cè)量。
主要特點(diǎn)包括:
? 成本低、快速、非破壞的 EDXRF 分析
? 可完成至多 4 層鍍層(另加底材)和 15 種元素的鍍層厚度測(cè)試,自動(dòng)修正 X 射線重疊譜線
? 多元素辨識(shí),廣泛覆蓋元素周期表上從鈦(22 號(hào))到鈾(92號(hào))各元素
使用能量色散 X 射線熒光(EDXRF)技術(shù), X-Strata920 可實(shí)現(xiàn)如下測(cè)試要求:
? 符合 ISO3497 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法:金屬鍍層—X 射線光譜法測(cè)量鍍層厚度
? 符合 ASTM B568 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法:X 射線光譜儀測(cè)量鍍層厚度,包括金屬和部分非金屬鍍層
? 至多同時(shí)分析 25 種元素
日立鍍層測(cè)厚儀
井深式、開槽式樣品倉(cāng)設(shè)計(jì)
? “井深式”樣品倉(cāng)設(shè)計(jì),可以測(cè)量很小到很大的廣泛尺寸的樣品/零件 ,可測(cè)量樣品高度不超過 160mm (6.3”)。樣品臺(tái)支架可放置在“深井”中的 4 個(gè)位置的卡槽上,使得不同樣品都可以方便地測(cè)量。
? 樣品臺(tái)支架放置在標(biāo)準(zhǔn)位置時(shí),就是“開槽式樣品倉(cāng)”,可以測(cè)量大型平板樣品,如尺寸大于儀器寬度的印制線路板。所有樣品可以很方便地放置并定位到待測(cè)點(diǎn)。
? Z 軸自動(dòng)控制(Z 向行程:43mm/1.7”)
? 樣品倉(cāng)內(nèi)部尺寸:152 x 279 x 508mm (6 x 11 x 20") (高 x 寬 x 深 D)
簡(jiǎn)潔、堅(jiān)固、耐用的設(shè)計(jì)
? 經(jīng)實(shí)踐驗(yàn)證、堅(jiān)固、耐用的設(shè)計(jì),可在大多數(shù)嚴(yán)苛的工業(yè)條件下使用。
? 空間占用小 –節(jié)約寶貴的工作臺(tái)空間,也可近產(chǎn)線放置。
? 計(jì)算機(jī)提供 USB 和網(wǎng)絡(luò)接口用于連接打印機(jī)、光驅(qū)和網(wǎng)絡(luò)。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)