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日本oji-keisoku分子取向儀無損測量高精度 MOA-8000系列 特點介紹
■特點
1. 非接觸式、無損測量
2. 可測量透明和不透明材料
3. 全自動、高精度
4. 可測量復介電常數（介電常數、介質損耗因數）
日本oji-keisoku分子取向儀無損測量高精度 MOA-8000系列 規格參數
■測量對象
1. 薄膜、片材
2. 紙、無紡布、預浸料
3. 泡沫片材
4. 陶瓷
5. 橡膠片材
6. 纖維增強復合材料
7. 液晶聚合物（LCP）
■用途
1. 拉伸薄膜的各向異性測量（彎曲現象分析）
2. 液晶聚合物的取向評價
3. 電子相關材料的復合介電常數測量等 ■
產品陣容
< MOA-8004 >
◆測量頻段... 4GHz
◆ 測量面積...Φ65mm
◆樣品尺寸...□95mm <t3mm
◆測量項目
取向圖案測量：取向角、MOR、MOR_C、ε'、⊿n
介電常數圖案測量：取向角、ε'、ε"
共振曲線測量：共振曲線、Q值
< MOA-8015 >
◆測量頻段... 12GHz / 15GHz / 17GHz
◆測量面積... Φ18mm
◆樣品尺寸... □35mm <t1.5mm
◆測量項目
方向圖測量：取向角、MOR、MOR_C、ε'、⊿n
介電常數圖案測量：取向角、ε'、ε"
共振曲線測量：共振曲線、Q 值
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