無錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環境溫度。是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設備。廣泛應用于半導體企業、航空航天、光通訊、高校、研究所等領域。高低溫沖擊系統測試儀工作原理
無錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機
給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環境溫度。
是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設備。
廣泛應用于半導體企業、航空航天、光通訊、高校、研究所等領域。
型號 | AES-4535 AES-4535W | AES-6035 AES-6035W | AES-8035 AES-8035W | AES-A1035W | AES-A1235W |
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溫度范圍 | -45℃~225℃ | -60℃~225℃ | -80℃~225℃ | -100℃~225℃ | -120℃~225℃ |
加熱功率 | 3.5kW | 3.5kW | 3.5kW | 4.5kW | 4.5kW |
制冷量 | AT -45℃ | 2.5kW | | | | |
AT -60℃ | | 2kW | | | |
AT -80℃ | | | 1.5kW | | |
AT -100℃ | | | | 1.2kW | |
AT -120℃ | | | | | 1.2kW |
溫控精度 | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ |
溫度轉換時間 | -25℃ to 150℃ 約10S 150℃to -25℃ 約20s | -45℃ to 150℃ 約10S 150℃to -45℃ 約20s | -55℃ to 150℃ 約10S 150℃to -55℃ 約15s | -70℃ to 150℃ 約10S 150℃to -70℃ 約20s | -80℃ to 150℃ 約11S 150℃to -80℃ 約20s |
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空氣要求 | 空氣濾清器<5um 空氣含油量:<0.1ppm 空氣溫濕度:5℃~32℃ 0~50%RH |
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空氣處理能力 | 7m³/h ~ 25m³/h 壓力5bar~7.6bar |
系統壓力顯示 | 制冷系統壓力采用指針式壓力表實現(高壓、低壓) 循環系統壓力采用壓力傳感器檢測顯示在觸摸屏上 |
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控制器 | 西門子PLC,模糊PID控制算法 |
溫度控制 | 控制出風口溫度 |
可編程 | 可編制10條程序,每條程序可編制10段步驟 |
通信協議 | 以太網接口TCP/IP協議 |
設備內部溫度反饋 | 設備出口溫度、制冷系統冷凝溫度、環境溫度、壓縮機吸氣溫度、冷卻水溫度(水冷設備有) |
溫度反饋 | T型溫度傳感器 |
壓縮機 | 法國泰康 | 法國泰康 | 法國泰康 | 意大利都凌 | 意大利都凌 |
蒸發器 | 套管式換熱器 |
加熱器 | 法蘭式桶狀加熱器 |
制冷附件 | 丹佛斯/艾默生配件(干燥過濾器、油分離器、高低壓保護器、膨脹閥、電磁閥) |
操作面板 | 無錫冠亞定制7英寸彩色觸摸屏,溫度曲線顯示EXCEL 數據導出 |
安全防護 | 具有自我診斷功能;相序斷相保護器、冷凍機過載保護;高壓壓力開關,過載繼電器、熱保護裝置等多種安全保障功能。 |
制冷劑 | 冠亞混合制冷劑 |
外接保溫軟管 | 方便外送保溫軟管1.8m DN32快接卡箍 |
外型尺寸(風)cm | 45*85*130 | 55*95*170 | 70*100*175 | 80*120*185 | 100*150*185 |
外型尺寸(水)cm | 45*85*130 | 45*85*130 | 55*95*170 | 70*100*175 | 80*120*185 |
風冷型 | 采用銅管鋁翅片冷凝方式,上出風型式,冷凝風機采用德國EBM軸流風機 |
水冷型 W | 帶W型號為水冷型 |
水冷冷凝器 | 套管式換熱器(帕麗斯/沈氏 ) |
冷卻水量 at 25℃ | 0.6m³/h | 1.5m³/h | 2.6m³/h | 3.6m³/h | 7m³/h |
電源 380V 50HZ | 4.5kW max | 6.8kW max | 9.2kW max | 12.5kW max | 16.5kW max |
電源 | 可定制460V 60HZ、220V 60HZ 三相 |
外殼材質 | 冷軋板噴塑 (標準顏色7035) |
溫度擴展 | 高溫到 +300℃ |
高低溫沖擊系統測試儀工作原理
高低溫沖擊系統測試儀工作原理
【適用范圍】
無錫冠亞AES系列高低溫沖擊系統測試儀適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、電子行業等進行IC 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。
【工作原理】
1、高低溫沖擊系統測試儀試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住,形成一個較密閉空間的測試腔,試驗機輸出的高溫或低溫氣流,使被測試品表面溫度發生劇烈變化,從而完成相應的高低溫沖擊試驗;
2、可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件,將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件,與傳統冷熱沖擊試驗箱相比,溫變變化沖擊速率更快。
【選購要點】
選購冷熱沖擊試驗箱要注意五個方面:沖擊溫度、試驗負載、復歸時間、除霜時間、放置位置。
沖擊溫度:是指測試區實際能夠跑到的溫度 范圍。注意不是預熱和預冷室的溫度;
試驗負載:直接影響能夠放置多少測試品。一般說來,這個重量越大越好;
復歸時間:它是指測試品全部從一個溫度點切換到另外一個溫度點所耗費的時間;
除霜間隔時間越長越好。現在有些廠家能夠做到1000cycles除霜一次,是非常適合的。除霜間隔越短說明該設備的氣密性越差;
sensor必須放置在測試區內部。有些廠家將sensor放置在風道內部,雖然與測試區只有10cm的距離,但是這個能量差異是相當大的。且不能夠真實反映測試品表面的溫度變化。