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當(dāng)前位置：無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司>>Fischer菲希爾代理>>菲希爾x射線測(cè)厚儀>> FISCHERSCOPE X-RAY XAN215
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地無(wú)錫市
更新時(shí)間：2024-02-21 17:46:30瀏覽次數(shù)：463次
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥,綜合 |
FISCHERSCOPE X-RAY XAN215
德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215菲希爾X射線測(cè)厚儀是一款頗具性價(jià)比的入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215菲希爾X射線測(cè)厚儀它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，從元素氯(17)到鈾(92)，多時(shí)可同時(shí)測(cè)定24種元素。
正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著初設(shè)的準(zhǔn)確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。
*的Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒(méi)有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。
德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品應(yīng)用：
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215菲希爾X射線測(cè)厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
珠寶、貴金屬和牙科用合金分析
黃金制品和K金制品分析
鉑金制品和銀制品分析
銠制品分析
其他合金分析和鍍層厚度測(cè)量
多鍍層厚度測(cè)量
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